B.O.X.射频测试研讨会将在10城市举办

2008-01-04 16:25:23来源: 电子工程世界网 关键字:制造  设计  信号源  频谱  分析仪

  安捷伦科技宣布将于2008年1月先后在北京、哈尔滨、大连、济南、南京、深圳、珠海、东莞、重庆和宁波等10 个城市举办“B.O.X. (Best Of neXt Generation)射频基础测试研讨会”。届时,除了对无线射频测试的基础理论、实际应用以及发展方向等进行广泛地互动交流和探讨外,来自安捷伦的专家们还将通过现场展示、解说和演示等方式详细向参会者介绍安捷伦最优秀的下一代测试测量产品和解决方案。此外,所有参会人员都可以实际操作仪器,并与安捷伦经验丰富的应用工程师进行面对面的交流。

  安捷伦科技有限公司(中国)总经理兰涛表示:“举办这样的研讨会是安捷伦公司的一个传统,目的是通过面对面的交流让客户更清晰、更全面的了解我们卓越的产品和技术;同时,我们也能够更准确、更具体地了解客户的需求和困难,从而为双方的合作和无线通信产业的发展起到积极的促进作用。”

  由于便捷性和经济性,市场对无线通信的需求与日俱增。在强大的市场需求驱动下,无线通信技术的发展也是日新月异,呈现百花齐放的局面。在这一波技术大潮中,无线射频测试首当其冲。如何在多技术、多需求的环境下,帮助无线设计和无线制造行业“快、好、省”地推出新产品和新业务成了下一代无线射频测试的重要任务和挑战。

  自2006下半年安捷伦公司向全球推出全新一代射频信号源MXG、频谱分析仪MXA及业界最高端的网络仪PNA-X,到2007年下半年接力推出的经济型高性能频谱仪EXA。在GSM/CDMA/WCDMA/TD-SCDMA的产业发展进程中,X系列仪表提供了从软件仿真设计,基带研发测试,终端和基站的射频测试,到核心网络协议测试等一系列的测试解决方案。其中MXG的信号切换速度和ACPR性能皆为业界最佳,EXA/MXA的测试速度更是比其他任何一款频谱分析仪提高30-300%。

关键字:制造  设计  信号源  频谱  分析仪

编辑:汤宏琳 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/RF_test/200801/article_8.html
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