NIDays 2015即将登场,携手共创物联时代

2015-11-04 00:07:56来源: EEWORLD 关键字:即将  登场  携手  共创
NIDays 2015全球图形化系统设计盛会(中国站)将于2015年11月12日在上海国际会议中心隆重举行。作为引领行业创新动态的风向标,NIDays已连续成功举办16届。今年NIDays将以“携手NI,共创物联时代”为主题,为您带来行业最新发展趋势及主流应用的技术创新。
 
随着“工业4.0”、“工业互联网”、“中国制造2025”等概念和政策的相继提出,物联网(IoT)已成为时下全球的热门话题,和我们的生活息息相关并已全面覆盖到各行各业中,从数据通信到智能化网络,从军事领域到农业种植,从城市交通管理到医疗卫生。伴随着这一浪潮,美国国家仪器(National Instruments, 简称NI)一直致力于为工程师和科学家们提供完整多样的平台化解决方案来应对IoT发展中的各种难题与挑战。今年的NIDays邀请了数位国内外重量级嘉宾,与参会者共同分享全球行业最新的发展趋势。活动的一大亮点是下午增设了IoT高峰论坛环节,来自高校、企业等领域的顶尖专家学者们,将从不同角度阐述 IoT 的前沿技术,共同探讨如何促进IoT创新发展。此外,活动当天NI还将有数款物联网应用的最新解决方案和软硬件产品重磅发布。
 
除了以IoT为主题的系列活动外,现场还将举办各类技术讲座和产品展示。20场专家演讲,涵盖工业控制与状态监测、自动化测试与测量、射频与无线通信、LabVIEW等4个专题;10 余个极具科技感和互动性的应用演示,让您亲自体验最新物联网解决方案;30余个最新最热门的工业应用展示,涵盖了从状态监测、汽车、航空航天、半导体测试、射频与无线通信等重要应用领域;更有 NI 最新发布产品的全方位展示,让参会者轻松掌握最新最前沿的技术,并与专业的工程人员进行深入探讨。
 
作为一个年度技术盛会,NIDays将全面向用户展示当前测试、测量与控制领域最新、最前沿的技术。利用其倡导的图形化系统设计平台,助力本地客户成功。

关键字:即将  登场  携手  共创

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/1104/article_13796.html
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