示波器在测量过程当中的常见问题

2015-10-30 08:24:00来源: eefocus
  示波器人们在设计中经常用到的一种测量工具,它的主要作用就是把不可见的电信号转换为肉眼可辨的图像,方便人们在设计和研究过程中观察电信号的变化并根据需要作出调整。今天小编就为大家整理了在使用示波器进行测量时会遇到的一些常见问题。

  
  示波器在不用电流探头的情况下如何测试波形?
  
  我们需要找一种电流小的精密霍尔传感器,比如5A 输出5V 。把集电极的腿,或发射极的腿从焊盘上焊下来,加接一根临时短线,穿过霍尔传感器的窗口,再焊回原先的地方,就可以用示波器测试工作电流了。届时把电压波形转换成电流就可以了。
  
  示波器维修开关电源会不会烧毁示波器?
  
  示波器电源接线如上面部分,零、火线经变压器隔离,地线与机壳相连,探头接地线也与机壳相连,所以探头接地线与电源地线是相通的。
  
  开关电源热地与火线只隔个整流二极管,示波器探头地线与开关电源热地相连时,火线经整流二极管与示波器电源地线相连。如果示波器电源地线与大地相连,就会短路烧毁整流二极管,见红线示意。
  


  要防止这样的事情发生,要么示波器电源地线不接大地,也不能接零线,要么开关电源用变压器隔离。在探头接地线处隔离也行,这就要用专用探头。我们只要遵循一个原则,只要断开红线示意的通路就行。
  
  示波器如何测交流电?
  
  我们可以在变压器的输出端接一个电阻,如果电压很高的话,可以用几个电阻分压,然后量阻值小的电阻,要保证不要让交流电的电压超过示波器的量程,否则就会有起火的危险。
  
  如何选择示波器的輸入阻抗?
  
  在电源噪声测试中,还存在示波器通道输入阻抗选择的争议。示波器的通道有DC50/DC1M/AC1M 三个选项可选(对于高端示波器,可能只有 DC50 一个选项)。一些工程师认为应该使用 1M欧的输入阻抗,另一些认为 50 欧的输入阻抗更合适。
  
  在测试中我们发现:如果使用 1 倍衰减的探头测试,当示波器通道输入为 1M 欧时,通常其测量出的电源噪声大于 50 欧输入阻抗的。原因是:高频电源噪声从同轴电缆传输到示波器通道后,当示波器输入阻抗是 50 欧时,同轴电缆的特性阻抗 50 欧与通道的完全匹配,没有反射;而通道输入阻抗为 1M欧时,相当于是高阻,根据传输线理论,电源噪声发生反射,这样,导致 1M 欧输入阻抗是测试的电源噪声高于 50 欧的。所以,测量小电源噪声推荐使用 50 欧的输入阻抗。
  
  电源CCM,DCM BCM用示波器怎么区分?
  
  VDS关断都有震荡,因为漏感和COSS,而对于再次导通时,CCM模式,当次级还在续流释放能量中,一次折射电压(Vor)依然会保持coss中处于先前的充电状态,故再次导通,不会产生震荡,而DCM,由于次级能量释放完,一次折算电压消失,从图中看到,当次级电流刚刚下降到0开始,这时候,加载coss和LM的电压突然变化(只有输入电压了),必然震荡。对于IDS,关断都有震荡,这很好理解,导通时候在LM储能,突然关断,必然会有感应电压产生,这个电压在coss,lm产生震荡。
  
  导通时,对于ccm,由于之前次级一直在续流释放能量,故二极管本身的电容处于储能状态,初级一导通,这个二极管电容电流反向放电,在初级感应一个尖峰电流出来,而DCM,由于次级释放能量完全,当次级续流电流降到0的时候,二极管的ci开始放电,故,再次导通,不会有这个恢复电流存在,所以一次没有感应尖峰。
  
  示波器的探头都有哪些规格参数?
  
  示波器的探头一般分为有源和无源的,通常示波器只配备无源的,输入信号与示波器没有隔离,普通无源的探头没有衰减功能,高档一点的带有1X10或1X100的衰减功能。普通的探头一般的使用电压上限不超过300V,如果高于300V需要选用高压探头。使用非原配的探头要注意探头的分布电容(一般为75pF)要和示波器相匹配,误差太大会影响测量的准确性。
  
  而有源探头自己带有信号处理电路,有自己独立的电源(有的是由示波器提供的),输入信号完全与示波器隔离的,有的带有多档衰减比供选择,有源探头测量时输入信号的电压高低不会对示波器产生不良影响,最多损坏探头,它可以直接测量较高的电压(300V以上),但有源探头比较昂贵,也比较容易损坏,特别怕震(尤其是霍尔型的探头)。另外,无源探头在示波器可靠接地时不能测量非以地为参考的电压信号,否则会损坏时波器或被测单元。
  
  示波器的用途非常广泛,能够测量各种不同的电量,也是设计人员最经常使用的一种测量设备。以上的问题中是否有你曾经遇到过的问题呢?小编将继续为大家收集与示波器相关的问题及答案,帮助大家解决更多的问题。

关键字:示波器  测量过程

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/1030/article_13761.html
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