Mentor Graphics推出新款Tessent ScanPro

2015-10-14 18:21:58来源: EEWORLD 关键字:Mentor
Mentor Graphics公司(纳斯达克代码:MENT)今天宣布推出新款 Tessent® ScanPro 产品,该产品采用的技术可以显著提升使用Tessent TestKompress® ATPG 压缩解决方案实现的测试模式容量的节省。由于测试模式的容量很大程度上决定了测试集成电路 (IC) 的成本和时间,因此 Tessent ScanPro 产品可帮助芯片制造商以更快、更具成本效益的方式交付他们的产品。 
 
Tessent ScanPro 产品的关键技术——嵌入式确定性测试 (EDT) 测试点,应用局部电路修改,可以减少测试模式生成过程中出现的分配冲突。由此,可以提升模式生成效率,进而显著减少模式数量。EDT 测试点可有效地减少针对所有类型故障模型生成的模式,包括来自 Mentor® 的高级单元感知故障模型。
 
“随着我们的设计尺寸不断增加,测试时间的问题变得越来越严重”,Marvel NCD 的 DFT 经理 Erez Menahem 说。“使用 Mentor 的 EDT 测试点技术,我们可以显著减少测试模型数量,在诸多测试案例中通常可减少到 1/3 ~ 1/4,而不会对质量产生任何影响。”

关键字:Mentor

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/1014/article_13499.html
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