泰克携最前沿、最完整的解决方案亮相CIOE2015

2015-08-19 09:22:11来源: EEWORLD
助力解决当今高速光通信测试挑战
 
涉及宽带OFDM光通信系统测试、40G/100G光通信一致性测试以及400G/1T的多载波相干光调制测试在内的全面光测试前沿解决方案
 
    全球领先的测试、测量及监测仪器提供商---泰克公司日前宣布,将参加8月31日至9月3日在深圳会展中心举行的第17届中国国际光电博览会(CIOE2015),展位为1号馆1077号。本届展会中,泰克将带来针对物理层发射、接收和光调制分析最前沿、最完整的光通信测试解决方案。
 
    随着移动互联和云计算技术的迅猛发展,快速推动着对远程光通信带宽的需求,导致了利用基于相干光技术的基础设施、新设计不断涌现,而这种迅速崛起的通信技术正在面临测试技术和方法带来的挑战。“为了让设计和测试工程师轻松应对这些挑战,泰克公司在已有的传统光通信测试方案产品基础上,不断推出100G/400G高速光通信领域的器件、模块设计调试及系统验证的全套测试方案。”泰克大中华区市场总监徐贇说道,“在本届CIOE展会上,泰克将展出——宽带OFDM光通信系统测试解决方案,400G/1Tbps多载波相关光调制方案以及40G/100G光通信一致性测试方案,是全球业界最前沿、最完整的高速光测试解决方案。”
 
宽带OFDM光通信系统测试解决方案
 
    在当今的无线电世界中,对短距离和中等距离传输大数据量的应用来说,OFDM正在越来越多地被选用。对需要产生OFDM信号以测试接收机的工程师来说,对带宽的需求和多载波的挑战是最为关键的问题。本次CIOE2015上,泰克公司带来的AWG70000系列任意波形发生器和DPO70000SX 70 GHz示波器组成的宽带OFDM光通信系统测试解决方案帮助工程师轻松通过信号源生成宽带OFDM电信号,并通过示波器分析和验证OFDM电信号。
 
    具有高达50 GS/s和10位垂直分辨率的AWG70000系列任意波形发生器提供了业内最佳的信号激励解决方案,可方便地生成复杂信号,在配合RFXpress波形创建和编辑软件使用时,可以对OFDM信号定义的各个参数进行配置,工程师可逐个符号地建立完整的OFDM帧,或让RFXpress软件针对信号的某些方面选择默认值。同时参展的泰克DPO70000SX 70 GHz示波器利用了泰克异步时序交织专利技术,拥有高达33 GHz的带宽、100 GS/s采样率,以及PDOJET专业抖眼图动测试软件、SignalVu(OFDM)信号分析专业软件,完美满足了接收机测试对高带宽、高性能示波器的要求,将与AWG70000组成无缝的测试解决方案。
 
支持400G/1T的多载波相干光调制测试平台
 
    相干光通信技术已经发展到一个新阶段,除了在数据率上从100G升级到400G或1T,在信号产生和接收解调方面都有了显著的变化和演进。泰克是唯一可提供完整相干光测试系统解决方案(从信号发生到调制、采集和分析)的供应商,在已有的传统光通信产品方案上,泰克将在CIOE2015中展出100G/400G高速光通信领域的器件、模块设计调试及系统验证的全套测试方案,包括OM5110高级偏振复用参考相干光源、OM2210相干接收机校准源和OM4245相干光波信号分析仪(光座)。
 
    OM4245 45 GHz光调制分析仪能够支持高达80G波特的双偏振相干光分析,它提供了内置窄线宽激光器,支持泰克OM系列用户界面(OUI),除典型分析应用中经过验证的简便易用性外,泰克OUI还提供了极高的灵活性,并能够访问科研人员进行更高级的相干光分析所需的MATLAB计算引擎,为进行相干调制算法试验提供了一个强健、省时、可以量身定制的平台。相干光接收机制造商还可以使用OM5110作为理想的发射机,测试接收机的性能,在最佳情况条件下验证其功能。然后通过使用AWG7000任意波形发生器之类的仪器,可以在信号中增加光损伤,在各种真实世界场景下测试接收机。
 
40G/100G光通信一致性测试方案
 
    泰克公司同时还将带来由业内唯一的16位分辨率采样示波器DSA8300、屡获业界殊荣的BSA286CL BERTScope误码率分析仪和CR286时钟恢复仪以及PPG4401并行误码发生器组成的40G/100G完整光通信一致性测试解决方案。其中,DSA8300数字采样示波器为155Mb/s - 100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台,为挑战性的高速检定测试提供最优秀的信号保真度,具有行业领先的小于100 fs的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,全面支持光通信标准时域反射计和S参数。
 

关键字:泰克  光通信  OFDM  多载波相干光调制

编辑:chenyy 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0819/article_12817.html
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