什么是ATE自动化测试设备?

2015-08-03 13:37:37来源: vihome
 ATE是“自动化测试设备”的英文缩写,是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动,自动化的完成测试序列。

   ATE在60年代早期始于快捷半导体(Fairchild)。 那时Fairchild生产门电路器件(如14管脚双列直插与非门IC)和简单的模拟集成电路器件(如6管脚双列直插运算放大器)。当时对于器件量产测试 是一个很大的问题。 Fairchild开发了计算机控制的测试设备,如5000C用于简单模拟器件测试,Sentry 200用于简单门电路器件测试。两种机器都是由Fairchild自主开发的计算机FST2进行控制。FST2是一种简单的24位,10MHz计算机。

   70年代早期,器件开发由小规模集成电路过渡到中规模集成电路,又于80年代早期从大规模集成电路过渡到超大规模集成电路。对于器件制造商来说,这时计 算机控制的测试系统已经成为主要的测试设备。Fairchild开发了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8测试系统用于数字器件测试。

  80年代中期,门阵列器件开发成功,测试方面要求达到256管脚,速度高于40MHz。

   针对这一需求,Fairchild 试图开发Sentry 50,但是失败了。Fairchild将其ATE部门卖给斯伦贝谢,成为斯伦贝谢测试系统公司。Fairchild将测试系统卖给斯伦贝谢以后,许多专家 离开了Fairchild加入Genrad,成立了Genrad西海岸系统公司。GR16 和 GR18数字测试系统由这里诞生了。这些新型的测试系统每个管脚有独立的测试资源,管脚数最多达144。不久这些工程师离开Ganrad成立了 Trillium测试系统,并将其卖给LTX。之后这些工程师又离开了LTX,他们中的一些加入了科利登(Credence),其它人加入了其他的ATE 公司。

  同一时期,泰瑞达的自动化测试设备在模拟测试和存储器测试方面占据统治地位。90年代早期Intel开发成功高速、高管脚数 的单片处理器单元(MPU),随之而来的是高速高管脚数的ATE。多媒体器件的出现使ATE变得更复杂,需要同时具有数字电路、模拟电路和存储器电路的测 试能力,SoC测试系统应运而生。

  目前器件速度已经达到1.6GHz,管脚数达到1024,所有的电路都集成到单个芯片。因此出现了真正系统级芯片测试的需求。

  ATE可以由带一定内存深度的一组通道,一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚。

  ATE可分为以下几种类型:

  *数字测试系统—— 共享资源测试系统,每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。如科利登的SC312和Quartet。

  *线性器件测试系统——用来测试线性集成电路的测试系统。

  *模拟测试系统——用来特性化测试集成电路的模拟功能。如科利登的ASL系列。

  *存储器测试系统 - DRAM 测试系统,闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列,Agilent 的Versatest系列, Advantest的T5593。  *板测试系统 - 板测试是用来测试整块印制电路板,而不是针对单个集成电路。如泰瑞达的1800。

  *混合信号测试系统——这种类型的系统资源用来测试集成电路的模拟及数字功能。 如科利登的Quartet系列。

  *RF测试系统——用来测试射频集成电路的测试。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。

  *SOC 测试系统—— 通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统,用来测试超大规模集成电路(VLSI)芯片;并且这种超大规模集成电路(VLSI)芯片的集成度比传统的混 合信号芯片高得多。如科利登的Octet系列, Agilent的93000系列, Advantest的T6673。

  ATE开发 是从简单器件、低管脚数、低速测试系统(10 MHz, 64 pins)到中等数量管脚、中速测试系统(40 MHz, 256 pins)到高管脚数、高速(超过100 MHz, 1024 pins)并最终过渡到现在的SoC测试系统(1024 pin, 超过400MHz,并具备模拟、存储器测试能力)。

  未来的测试系统测试速度将超过1.6GHz,时序精度在几百纳秒范围内,并将数字、模拟、存储器和RF测试能力集成于一台测试系统。

  这样一台测试系统的成本将非常高,因此需要使用一台或多台测试工作台进行并行的器件测试。为了降低测试成本,芯片中将加入自测试电路。同时基于减少测试系统成本的考虑,模块化的测试系统将取代通用的测试系统。

ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用 TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。

ATE的分类:

1 PCBA自动化测试

由DMM,程控电源,DAQ Card, 单片机,继电器,PLC,气缸,Fixture等组成的电信号自动采集系统,广泛运用于ICT,FCT等测试设备。软件部分采用NI LabVIEW编写,全自动依次采集并判定PASS/FAIL,自动生成测试报表并上传数据库.


2 视觉检测
基于高分辨率工业CCD和NI Vision的视觉测试系统,用于焊点判别,尺寸测量,角度测量,字符识别等。采用双峰积分法,二值法处理图片,运用几何工具量取尺寸,运用特征码识别对比图片,具有较高的准确度。


3 LED画面测试

Black&White display test
RGB display test
Color display test
Grey display test

4 LCD专业测试
基于光纤和颜色传感器的LED测试系统,可测试RGB,发光强度,色坐标,色温,波长等。支持多通道高速同时测试。


5 IC TEST
支持I2C,SPI等通讯模式的IC,可读取Checksum并与烧录文件比对。也可采用边界扫描测试,对TDO,TDI,TMS,TCK,GND,加VDD和地,就可以测试IC的每个脚的好坏。

6 汽车电子测试
自动化测试系统在汽车电子方面得到了广泛运用,如通过LED专业分析仪检测汽车LED灯的颜色和亮度;通过RS232来驱动基板接收各种RF信号,并用示波器来检测倒车雷达,车锁等无线装置;以及通过DMM来量取电压信号和暗电流,对地阻抗等。

7 手机测试

GPS测试
蓝牙测试
Audio测试
LCD测试
Camera测试
Keypad测试

8 其它
老化测试
烤箱测试
电视测试
冰箱测试
空调测试
MP3测试
音箱测试
医疗器械测试

关键字:ATE  自动化  测试设备

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0803/article_12562.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
ATE
自动化
测试设备

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved