2602新型测试仪器典型的设备结构有哪些

2015-06-30 18:04:25来源: ednchina
2602型双通道系统源表[1]

 

典型的测试设备结构

当我们在选择生产测试设备时,考虑前面提到的三大类系统是大有裨益的:

u         单机/单通道I-V解决方案

u         并行I-V测试系统

u         可随意组合的多通道系统

单机/单通道[2]I-V解决方案――常适合于对成本不是特别敏感的应用。在此类应用中,可采用较低速的源-测量架构。多个源-测量单元(SMU)可与开关矩阵一同使用,构成多通道系统,但是这种配置限制了机架密度及系统吞吐量不能很高。在较小规模的系统中,一般由PC机控制,通过GPIB[3]或外部触发来控制SMU。但是,其中有一些系统具有内部的程序存储器,可允许在没有PC机控制情况下储存和执行测试序列,减少了速度相对慢的GPIB接口通信量。通常,对SMU没有程序存储功能或有程序存储功能但容量有限制时,用户开发由PC控制执行的测试应用程序(采用SCPI[4] 命令)是十分必要的。

关键字:2602  测试仪器  设备结构

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0630/article_12158.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
2602
测试仪器
设备结构

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved