DigRF 协议层测试方法

2015-06-30 13:35:17来源: ednchina 关键字:DigRF  协议层  测试方法
对于从事DigRF设计特别是相关基带和射频芯片研发的人员来说,仅仅确认信号质量没有问题是不够的,随着BB IC和RF-IC 之间的通信链路从模拟向高速串行数字的不断演进,DigRF 标准为移动无线开发、集成和验证团队带来了新的挑战。其中一个主要挑战是测试期间有些元器件不可用或未准备就绪。例如,需要在没有BB-IC 的条件下测试RF-IC (或相反的情况),为了重现系统问题或运行回归测试,通常需要生成流量条件,对于实际器件来说这些条件可能很难重现。另外,在集成测试阶段,查找互通性问题的根本原因成为一个难题,问题可能存在于数字域或射频域内。数字和射频设计团队需要一个能够在所选域内提供深入分析功能的通用平台。针对这种应用,Agilent推出了针对DigRF的全套的协议分析方案。这套系统采用模块化设计,主要模块由2部分组成,一部分是训练器,另一部分是协议分析仪,两部分可以独立使用,也可以配合起来组成全面的测试系统。




    训练器模块用于在BB-IC或RF-IC的开发阶段产生DigRF的数据流和被测芯片进行交互。N5343A可以把各种来源(包括Agilent的Signal Studio 和ADS软件) 的数字 IQ 数据加载进来,并封装到符合DigRF v3 或v4 标准的数据包中。另外根据用户的规定,控制包也可以插入到数据包流量中,并同时在波形中循环,基于这一特性,工程师在测试中也可以调整不同的配置参数,比如设置射频放大器的增益等。 


    N5344A 分析模块能够捕获被测件的流量。使用信号提取工具,可识别数据包并从中自动提取数字IQ 数据。通过在主机控制器上运行的89601 矢量信号分析工具对数字IQ数据进行分析。这些功能使用户能够对比特级至复杂IQ 调制的信号进行深入分析,并验证数字IQ是否被正确地转换为DigRF格式,从而使射频和数字工程师能够迅速验证RF-IC 和解决交叉域问题。 

关键字:DigRF  协议层  测试方法

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0630/article_12153.html
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