NI第十五届图形化系统设计征文竞赛全面启动

2015-06-16 11:47:50来源: EEWORLD
美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI) “第十五届图形化系统设计征文竞赛”已于近日正式启动。此次大赛针对所有使用NI产品的用户,旨在进一步推动图形化系统设计在国内的发展和应用,使更多的工程师们能更快更好地开发符合特定要求的测控应用。
 
从2000年开始,该活动已经成功举办了十四届,得到广大NI新老用户的热情支持,每年都收集到数量众多的优秀创新应用方案,使得大赛获奖应用方案文集备受青睐。活动一旦正式报名参与,即有奖励。入围决赛者更将有机会获得丰厚的奖金、超值产品升级与培训奖励,以及免费参加 NIDays技术盛会的机会。决赛获奖文章还将发表在权威期刊《仪器仪表学报》增刊上 。
 
您想赢得免费参加NI一年一度的行业盛会NIDays的机会吗?您想与业内同行分享您利用NI平台化解决方案开发出的创新及前沿应用吗?您想通过我们的媒体宣传渠道提升您个人在业内的知名度吗?请不要错过今年的征文竞赛。欢迎您即刻报名参加!

关键字:NI

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0616/article_11999.html
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