EMI测试那点事——高速数据引起的EMI问题

2015-05-19 10:17:39   来源:ednchina   

关键字: EMI测试  高速数据引  EMI问题

面临的问题:

该电子设备为300MHz 频段专用的无线通信设备,EMC 认证没有问题,但该设备自身工作并不正常,以前曾用频谱仪配近场探头测试过,发现在嵌入式射频发射电路板内FPGA 处有较强的EMI 辐射,造成底噪升高,使得该通信设备发射信号信噪比降低,影响通信质量。多次整改设计方案,效果不明显。

 

实测过程:

既然客户已经测试过EMI,我们首先用MDO 进行验证,在0~330MHz 跨度内测试该电路板EMI 问题,果然发现底噪抬升明显,EMI 问题十分严重。用近场探头逐点探测,的确在该电路板FPGA 处底噪抬升最为明显,说明该电路EMI 源自此FPGA。此FPGA 面积不大,很容易屏蔽,因此通过EMC 认证没有问题,关键是此电路板射频射频输出信噪比差自身特性受影响。由于FPGA 是此电路板的心脏,一旦定型,很难改动,如果重新设计,等于是从头再来,不可接受。观察一段时间,我们发现该底噪抬升是随时间变化的,于是我们分别存储了底噪最高时和底噪最低时的两个结果如下:

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此时为底噪较高时,达-65dBm。

 

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此时为底噪较低时,最高底噪幅度不超过-80dBm。

 

对于幅度随时间变化的频谱,MDO 的优势在于调制域分析,为此我们打开MDO 幅度随时间变化曲线显示功能,用MDO 射频功率触发得到如下测试结果:

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从测试结果看,触发点处底噪幅度最高,在280MHz以及432MHz 处达-59dBm。图中上半部分显示,突发幅度呈周期性变化,用MDO 时域光标,可以测试出其周期为94uS。我们移动代表频谱分析时间段的橙色条到突发幅度右侧的几条线处,得到测试结果如下:

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编辑:什么鱼
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0519/article_11821.html
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