测试LTE从哪里开始?

2015-04-21 09:00:13   来源:elecfans   

关键字: 测试LTE

  使用任何新技术时,生产工程师面临的最大挑战就是要测试哪些内容以及为什么要测试它们。对于现代化智能手机或平板电脑这样复杂的设备来说,这一点尤其棘手。至于LTE,其复杂程度前所未有,完全测试下来就需要将设备整天放在测试仪上。

  生产中的基本假设必须是,工程部门交付的设计能够满足客户的所有需求并且在正确组装以后能够实现一致的功能。尽管支持这一假设会为设计团队及其流程增加负担,但如果没有这一保证,对于当今极其复杂的设备,测试范围将会过大而无法检查出所有的可能性。生产车间不是检验数百万固件生产线或是检验与数百万门级数字信号处理(DSP)/专用集成电路(ASIC)设计相关的硬件功能的地方。

  生产测试的主要目标是测试尽可能多的移动设备,发现制造缺陷,同时最大程度地缩短测试时间。软件和数字设计已在工程和一致性测试中经过了验证。数字集成电路在其生产过程中已进行了广泛测试。一旦出现数字故障,通常会导致手机出现无法开机、不能产生输出或不能接收信号等灾难性后果。这些故障通常最好是在根本没有任何测试仪介入的情况下,通过内部上电测试这样的简单技术和通过使用校验和来发现。因此,最优的生产测试注重于物理层测量,该领域展现了与制造过程相关的最大程度的可变性。

  以下各节讨论了LTE的测试以及如何对物理层测试仪(如LitePoint公司的Iqxstream,见图)的测试进行优化。

LitePoint公司的Iqxstream

  物理层测量

  物理层测试关注空中接口的最底层。其目标是确定成功传输无线信号必不可少的重要参数的一致性。发射功率、发射波形质量和发射频率精度对移动电台的性能都至关重要。在接收端,移动设备在最低和最高信号电平成功解码所接收信号的能力,是其在网络中成功操作的关键。

  LTE的3GPP测试规范包含大量不同的测试手段,用来确定LTE规范的符合性。这些测试中有很多存在一定程度的重叠。鉴于数字域内的实现程度,在一台移动设备和另一台之间的很多测量不会有所差异。一般认为用户设备(UE)发送器(表1)测试足以检测到生产环境中的问题。

UE发送器测量指标

表1:UE发送器测量指标

  在很大程度上,邻频道泄漏功率比(ACLR)、占用带宽和频谱发射模板(SEM)都在解决相同的问题。一般在模拟输出链路的最终部分都存在某种劣化,或者在DUT内有产生伪信号的噪声源。因此,将只会指定这些测量的一种作为测试计划的一部分。

  与最终输出位于天线连接器以供评估的发射链路不同,接收信号在被完全解码之前始终处于DUT内部。幸运的是,虽然在接收链路中有许多可能劣化的器件,但几乎所有的劣化都将在接收阈值或其附近的接收误码率测量中显示出来。物理层测试仪通常依赖于DUT报告接收测试结果的能力。由于接收质量监测是现代空中接口操作的一个重要部分,所以将此数据路由至外部终端接口是一个简单明了的方法。大部分(如果不是全部的话)集成电路制造商都支持某种或其他形式的误码率测试。

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编辑:什么鱼
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0421/article_11472.html
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