为存储器测试开发低成本的解决方案

2015-03-12 10:47:33   来源:eechina   

关键字: 存储器测试  储存数据

便携式技术的发展使人们越来越依赖蜂窝电话、PDA和导航系统这类便携式装置。随着处理器技术的不断进步,过去几年中大容量存储器件的设计和开发呈指数级增长。例如,从苹果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano产品,重新设计的关键部件不是速度更快的处理器,而是采用闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器的正确设计和测试。  

在开发和测试存储器件方面,工程师面临着许多挑战。要获得更低的消费价格,就要不断削减测试成本和时间。一直以来,设计团队不得不为每个设计购买或租赁昂贵的高端存储器测试设备。而PC的普及和FPGA技术的发展则催生出一种用于验证存储器件的新型、低成本测试设备。基于PC的混合信号平台,诸如图1所示的PXI(用于仪器的PCI扩展)测试系统,可以安装在工程师的桌面上并提供比其它方案成本更低的、测试所必需的功能。利用这些平台,工程师可以尽早测试其设计,并将测试贯穿到整个开发过程之中。  

本文将探讨存储器测试解决方案的开发以及验证功能和物理连接所需的测试设备功能。并分析除了满足存储器基本功能测试之外,如何扩展测试能力。  

存储器测试的主要目标是验证存储器件上的每一个存储位都能够可靠地储存数据。验证存储器件所需的关键测试包括验证物理连接、检查存储器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平台,例如PXI,工程师可以利用标准的编程语言(例如NI LabVIEW和C/C++)开发定制、低成本测试系统,以满足存储器测试的要求。  

验证物理连接(包括存储器地址和数据I/O线)对于确保数据被正确存储在所期望的位置至关重要。地址线规定每一个操作的存储位置,而双向数据线负责将数据输入和输出存储器。如果有一个物理连接发生故障,其它测试也会出错。  

存储器的功能测试由数字测试设备执行的一系列读写操作构成。每次执行读操作之后,测试系统将读取的数据与期望值做比较。测试数据线不需要重复通过存储器中的每个地址。例如,一个4位存储器只需要4次写和读操作,以完全验证数据线并核查粘着性(stuck-at)故障。通过选择单一地址,初始化时存储器各位均置为“0”,采用“进位置1”模式写入数据,工程师就可以高效地测试数据线。图2所示为4位存储器件的“进位置1”模式。测试的第一步是把“1000”写入期望的位置,然后,对该地址进行初始化读操作。如果存储器返回的数据与所写入的数据相匹配,那么就表明该数据线功能正确。采用不同的测试模式,工程师可通过类似步骤验证地址线和每一个存储位。 

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图1:应用于桌面的PXI混合信号测试系统。 

尽管一些数字仪器可以执行这种简单的测试,但要测试更复杂的存储器件则需要成百上千的读写操作。如果用软件执行比较读入数据与每次读操作后的期望响应,那么测试时间可能会成指数级增长。  
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编辑:什么鱼
本文引用地址: http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0312/article_10998.html
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