《NI自动化测试趋势展望2015》带您全面了解影响测试和测量

2015-03-06 09:10:57来源: eefocus
NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,NI近期发发布了《自动化测试趋势展望2015》,重点阐述了该公司对最新测试和测量技术方法的研究成果,总结了将会影响许多行业的技术发展趋势。工程师和经理们可借助该报告,为您进行重要的技术和商业决策提供信息依据。


《自动化测试趋势展望2015》包含了以下内容:

 

    基于商业现成技术的标准化测试设备正在重塑多个行业

  • 架构: 跨越大数据鸿沟:

    如何将工程与IT相结合来利用测试数据

  • 计算:问题的核心

    从多核处理器演变为众核处理器

  • 软件:必然性驱动

    安全法规和软件正在将HIL测试推向交通运输制造业的最前沿

  • I/O:1G到5G的演变

    摩尔定律如何推动仪器进入5G时代 


NI通过院校和工业调研、用户论坛和调查以及结合商业智能和客户咨询委员会的意见得出了《自动化测试趋势展望2015》。随着我们对这些趋势的面对面深入交流,我们希望《自动化测试趋势展望》将是一个双向讨论。 我们非常愿意倾听您对行业技术改变的想法,并将您的宝贵反馈整合到我们每年更新的技术展望中。

关键字:NI  自动化测试  HIL测试  测试数据  混合方法测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0306/article_10920.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
NI
自动化测试
HIL测试
测试数据
混合方法测试

小广播

独家专题更多

迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved