是德推出适用于射频芯片测试的PXIe高速数字激励/响应模块

2015-02-27 14:28:44来源: EEWORLD
    是德科技公司(NYSE:KEYS)日前推出最新型16 通道 PXIe 高速数字激励/响应模块。该模块包含参数测量单元(PMU),可以为测试工程师提供快速而灵活的射频芯片组测试仿真和器件表征功能,帮助他们完成设计验证和生产测试任务。

    功能强大的码型环化技术使工程师能够针对单站点或多达 4 个独立的多站点动态地创建码型,利用高电压通道和开漏引脚同时实施器件测试。工程师因此可节省宝贵的设计验证和生产测试时间。

    是德科技软件和模块化解决方案事业部市场经理 Mario Narduzzi 表示:“我们一直积极帮助测试工程师加速设计验证和提升生产测试吞吐量,经过不懈努力,我们最终在业界率先推出了高速、灵活且具有同步多站点功能的PXIe高速数字激励/响应模块。”

Keysight M9195A PXIe 数字激励/响应模块提供:

串行和并行数字器件接口仿真
精确的矢量时间控制,强大的波形表功能和高达 250 ns 激励/响应时延补偿设置以及 25 ps 可编程分辨率。
业界领先的每比特1 ns边沿分辨率能力,使工程师能够更精确地验证器件设计
通过软件前面板启动数字仪器控制和码型生成/编辑
全功能驱动程序和 IEEE-1450 STIL 编程标准或 Open XML(Excel)
提供可以加速波形码型生成的测试开发软件
码型导入功能,可以导入自动测试应用软件创建的码型

关键字:推出  高速  数字  激励

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0227/article_10911.html
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