OLED显示器的DC生产测试中测试系统的性能

2015-02-03 11:50:31来源: eefocus
我们曾对采用四个2400的测试系统的测试速度、小电流和小电压测量精度,在一系列不同的测量时间间隔条件下(即不同的NPLC设定参数)进行过特征化测试。NPLC参数与测试时间间隔有如下关系式
                                     测试时间间隔(秒)= 1/60(NPLC参数)

图1表示了2400型源表NPLC值从0.01到1.0时,在10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A量程内的低电流测量性能。测试电流的大小接近每个量程的最大值,而每个测量点则代表100次测量的标准差。测试结果表明,对于每一个很短的积分(integration)时间,即 < 0.1 NPLC,在10-2A、10-3A和10-4A量程下,电流测量的标准差小于满量程的0.005%,而在10-5A和10-6A量程下小于0.08%。在10-5A和10-6A量程下以最高测试速度测量时,±3σ的测试可重复性达到了< 2nA。图2表示了一个以四个2400构建的测试系统的测试吞吐率的测量结果(该结果表示为NPLC设定值的函数)。

图1. 2400源表的电流测量值的标准差与NPLC的关系曲线,其中的测试量程为10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A。

当用于单个像素的开路、短路测量时,2400被配置成一个电流源,然后进行电压测量。PC机通过电流源输出值和电压测量值计算出电阻。这一技术直接使用了2400进行电阻测量,从而缩短了与电阻测量有关的测量时间。测量精度接近或小于0.2%,而这一性能水平对于“合格或不合格”的测试是足够了。它的测试吞吐率为漏电流测试速度的百分之几。

图2. 采用四个2400的OLED特征化系统的测试吞吐率

在对电缆、扫描卡和夹具的设计中使用保护,可大大降低漏电流,而且能够为基于6517A型静电计和7158、7058型扫描卡的系统,实现低电流的测量提供支持。加保护的信号通路缩短了与低电流测量所需的较长稳定时间,这进而又缩短了测试时间。即使采用了保护电路,6517A的测量速度仍比不上2400,所以它的吞吐率将会低一些。

可以采用四个6517A和低电流扫描卡组成的系统进行一次性能研究,但由于测试夹具和电缆走线对测试系统有很大的影响而使此项研究未能实现。这些部件通常是客户提供的,而漏电流的大小可以有非常大的变化范围,这就影响到了低电流性能和测试稳定时间。

关键字:OLED  显示器  DC生产测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0203/article_10799.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
OLED
显示器
DC生产测试

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved