是德科技于DesignCon展会上展示高速数字设计与测试解决方案

2015-02-03 11:43:47来源: eefocus

是德科技公司在DesignCon 2015展会上展示其高速数字解决方案。本届展会于1月28日到29日在美国加州圣克拉拉会展中心举行,是德科技展位设于第725号展台。是德科技非常自豪能够接替其前身惠普公司和安捷伦公司,继续担任DesignCon展会的发起方和主办方。一年一度的DesignCon展会即将迎来其20周年纪念日。作为主要面向高速通信和半导体行业中的芯片、电路板和系统设计工程师的一项活动,它已成为行业中最重要的展会。


是德科技展出众多仿真、建模、测试和一致性测试解决方案,旨在帮助工程师应对各种数字技术的挑战,包括业界最新演进的标准。


  
是德科技隆重展示以下新产品:

  • 适用于DDR2/3/4和LPDDR/2/3/4协议验证和调试的U4154B 4 Gb/s状态模式高性能逻辑分析仪模块
  • 用于高级设计系统的DDR总线仿真器和DDR4一致性测试平台
  • 具有新功能的J-BERT M8020A高性能比特误码率测试仪
  • 能够灵活生成各种复杂信号的M8195A 65 GSa/s任意波形发生器
  • M9375A PXI-VNA模块。这些模块可以安装在单个PXI机箱中,与PLTS(物理层测试系统)配合实施多端口器件表征

 

同时展出的还有Keysight DDR4仿真、调试和验证解决方案、全系列高性能示波器、逻辑分析仪、任意波形发生器、导电轨探头和TDR解决方案。


是德科技市场部经理Doru Popescu表示:“DesignCon一直都是数字设计和测量行业中最重要的活动。为了庆祝它的20周年纪念日,我们组织了最庞大的阵容参展,从展台面积到解决方案种类,再到现场专家的实力都超过以往。我们的授权技术合作伙伴――益莱储公司(Electro Rent Corporation)也在其中。”


在今年的展会上,是德科技举办10场单独的现场教学活动。每场用时40分钟,由是德科技行业专家主持,主要讨论DDR4、LPDDR4、PAM-4和100G以太网等主题。


是德科技数字测试标准计划

是德科技针对数字应用的解决方案得到各个国际标准委员会内的是德科技专家的推动和支持,其中包括电子器件工程联合会(JEDEC)、PCI特殊利益集团(PCI-SIG)、视频电子标准协会(VESA)、串行ATA国际组织(SATA-IO)、USB应用厂商论坛(USB-IF)、移动行业处理器接口(MIPI)联盟、以太网标准(IEEE 802.3)、光互联论坛(OIF)等等。是德科技积极参与这些标准组织及其相关的研讨会和活动,以便提供适当的测试解决方案,满足客户不断演进的需求。

关键字:是德科技  DesignCon  高速数字设计  一致性测试  波形发生

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0203/article_10795.html
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