556构成的光电子脉冲遗漏检测器

2015-01-19 14:02:04来源: eechina
如图所示为光电子脉冲遗漏检测电路。该检测器由光电子开槽开关H13B1、双时基电路556与一些阻容元件构成的单稳态触发器和多谐振荡器等组成。光电子开关H13B1内的发光管和光敏管之间开有一个几毫米的槽缝。当外界隔光物体插入其缝隙时,H13B1内部的光敏管因通道光束被切断而呈高阻,使IC1-2(1/2 556)脉冲信号检测器因得不到复位信号而输出高电平,进入暂稳态,相应暂稳时间为td=1.1RwlC2,且调节W1可改变td。若信号中断时间大于暂稳时间幻,则IC1-2复位,③脚输出的低电平使BG1截止,可控硅SCR导通,相应使负载RL得电,或将电源电路断开,或发出报警信号。多谐振荡器由IC1-1(1/2 556)和R1、R2、C1等组成,其振荡频率为f=1.44/(R1+2R2)C1,图示参数对应的频率约为2.5kHz振荡信号的占空比为99%,该高占空比的脉冲信号驱动H13B1中的发光管发光。

关键字:556  光电子脉冲  遗漏检测器

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2015/0119/article_10635.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
556
光电子脉冲
遗漏检测器

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved