天线近场测量技术探讨

2014-11-18 09:50:46来源: eccn
1 引言

天线特性参数的测量有多种方法,目前,主要的方法包括三大类:天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。其中,因天线特性主要是定义在天线的远场区故远场测量更为直接准确,而紧缩场测量天线主要是拉近远场所需远场条件:d≥2D2/λ,其通常采用一个抛物面金属反射板,将馈源发送的球面波经反射面反射形成平面波,在一定远距离处形成一个良好的静区。将天线安置在静区内,测量天线的远场特性,其类似于远场测量,只是缩短测量距离,便于在理想远场环境(暗室)下进行测量。

比较而言,天线近场测量技术应用更为广泛,其对设备要求低,不需要造价昂贵的暗室环境,也不需要远场测量下,对射频系统的较高的要求。

传统的远场测量由于受地面反射波的影响,难以达到这么高的测量精度。另外,远场测量还受周围电磁干扰、气候条件、有限测试距离、环境污染和物体的杂乱反射等因素的影响,已经越来越难以适应现代卫星天线的测量要求。新一代的天线测量技术是以近场测量和紧缩场测量为代表的。近场测量技术利用探头在天线口面上做扫描运动,测量口面上的幅度和相位,然后把近场数据转换成远场。由于近场测量只需测量天线口面上的场,就可避免远场测量的诸多缺点,而成为独立的一门测量技术。

近场测量技术主要是指频谱近场测量技术,通过研究被测信号的频谱结构进行频谱分析,从而得到近场天线的各项参数。与远场测量不同的是,其通过采集天线近场区域辐射场的数据,经近场——远场变换,由计算机得到天线的远场特性。只要保证一定的幅度和相位测量精度,即可较为准确的得到远场特性。

频域近场测量中,信号源发射连续信号,适用于频域平面波谱分析,在时域近场测量技术中,信号源发射的是脉冲信号,用时域平面波谱分析比较合适。

1994来,美国的Rome实验室的Thorkild R.Hasen和Arthur D.Yanghjian提出了时域平面近场测试方法,并推导出时域内的格林函数表达式和平面波普表达式,同时分析了探头误差分析与修正公式。国内在此领域研究比较少,北京理工大学搭建了国内第一个时域近场测试系统[1]。

天线的测量经历了一个从远场测量到近场测量的发展过程。远场测量是直接在天线的近场区对天线的电磁场进行测量,所以测量场地和周围范围电磁环境对测量精度影响比较大,对某些天线来说,要求测量距离要远大于2D2,其中D为被测天线的口径尺寸,λ为工作波长,而且对测量场地的反射电平、多路径和电磁环境干扰的抑制都提出了很高的要求,这些要求在远场条件下往往很难满足。随着测量设备和计算手段的不断进步,天线的电气特性可以在微波暗室内通过近场测量更方便、更精确的测得。

近场测量是在天线近区范围内,求得天线的远场特性。由于其不受远场测试中的距离效应和外界环境的影响,故具有测试精度高、安全保密、可以全天候工作等一系列优点,并且能很好的模拟和控制各种电磁环境,并通过合适的软件有效的补偿各种测量误差,其测量精度甚至优于远场测量,从而得到越来越多的应用,一直是人们研究的重点课题,也是当前高性能天线测量的主要方法之一。

天线近场测量经历的阶段:

时间 研究内容

1950~1961年 无探头修正探索阶段

1961~1965年 探头修正理论研究阶段

1965~1975年 实验验证探头修正理论阶段

1975~至今 推广应用阶段

早在20世纪50年代,国外已经开始了天线近场测量的研究。国内的近场测量的理论研究及实验探索开始于20世纪80年代,西安电子科技大学在1987年成功研制了我国第一套天线近场测量系统[3]。矢量网络分析仪作为天线近场测量系统的核心设备以及射频和微波产品性能的主要测试仪器,多年来在精度、速度、动态范围和操作界面等方面都有较大的改进,对天线近场测量系统的性能优化起了很大的推动作用。

1 天线近场扫描法测量系统

近场测量方法包括:场源分布法、近场扫描法、缩距法、聚焦法和外推法等,这些方法各有其优缺点及适应范围。本文主要讨论近场扫描法来测量天线各项特性。

近场扫描法是用一个特性已知的探头,在离开待测天线几个波长的某一表面进行扫描,测量天线在该表面离散点上的幅度和相位分布,然后应用严格的模式展开理论,确定天线的远场特性。测量面可以是平面、柱面或球面,相应的近场扫描法称为平面、柱面或球面近场测量。从上世纪80 年代初,我们开始了对近场测量技术的研究,于1987年研制出了我国第一套近场测量系统。此后一直从事天线近场测量技术方面的研究及推广。

任何近场测量方法,都需在指定的曲面上规则地采集幅度和相位数据。给定曲面几何形状,数据和参考天线(探头)的特性,通过测量天线的近场特性,经近场-远场变换,由计算机处理、确定待测天线的远场特性。

最常用的扫描技术包括:平面近场(PNF),柱面近场(CNF)和球面近场(SNF)。每一种都需将平动与转动组合实现在理想曲面上的扫描。

近场扫描法测量系统主要由射频子系统,扫描子系统,数据采集处理系统等组成。最简单的射频子系统包含能够向AUT提供射频功率的某种类型的信号源以及能够检测探头接收信号的接收机。在数据采集系统中,幅度和相位数据在测量表面的已知位置(如文中的网格点处)采集,通过扫描探头对特定位置处场值的记录,计算机存储生成所测得的数据,再由计算机通过傅里叶变换实现近场远场数据转换,从而得到天线的远场特性,再可由matlab软件绘出相应远场的幅值和相位随位置的变化的波形图。整个系统的转台及定位均有数据采集与控制系统(DCCS)监视并控制,因而,需由电脑全自动控制,这样既保证转台转角的精度,各背景的恒定,以尽可能减小外界额外环境的干扰,提高测量准确度。此外,由于对天线近场的测量点非常多以及每次参量的变化对背景的重新测量,得到的数据量极大,计算机发送接收这些数据

2 天线近场测量机械扫描子系统

任何近场测量理论中,幅度和相位数据是在某些特殊面上按规律的方式获取。给定面的几何形状,数据和参考天线(探头)的特性,优先选用一种高效的变换来确定待测天线的远场特性。最常用的扫描技术有平面近场(PNF),圆柱面近场(CNF)和球面近场(SNF)。每一种都需要将平移与转动相结合完成理想面上的扫描。 3.1 PNF近场扫描

PNF扫描要求较小的暗室环境,校准技术和相当简单的数理分析。该技术最适合于像碟状或相位阵列这样的高度定向天线,这类天线几乎所有的接收和发射的能量都会通过平面扫描区域。

矩形扫描是一种常用的PNF技术,如图1所示,扫描的数据是在网格上特定的x,y点处收集得到。探头放置在沿y轴的直线滑轨上。y轴滑轨安放在沿x轴向的第二个滑轨上。

图1 PNF近场扫描

平面近场扫描仪由一对正交安装的导轨组成,其中竖直安装的导轨在水平安装导轨上面,探头安装于竖直导轨上扫描整个平面。扫描平面一般与待测天线的口面平行。扫描架需调整至x轴和y轴垂直。

采样是测量数据中两相邻数据所需的最短周期。在x和y方向小于λ/2的步进间隔一般都能满足采样准则。

[1] [2]

关键字:天线  近场测量技术  测试测量

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/1118/article_10105.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
天线
近场测量技术
测试测量

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved