LM-STAR 基于NI 软件测试系统节省百万成本

2014-11-12 14:47:35来源: ck365

Author(s):
Robert Dixon - Lockheed Martin STS

Industry:
Aerospace/AvioNIcs

Products:
TestStand, LabWindows/CVI

The Challenge:
针对计划中超过3000架联合攻击战斗机设计测试系统,从生产,环境应力筛选到补给测试实现应用。

The Solution:
设计支持航空电子测试系统集成的测试系统。使用NI TestStand及LabWindowsTM/CVI作为核心测试管理及ANSI C语言测试开发环境。

"LM-STAR系统使用NI TestStand及LabWindows/CVI作为核心测试管理及ANSI C测试开发环境,能够快速开发测试方案,并满足用户的低成本和及时性要求。"

2001年洛克希德马丁公司获得了史上最大的飞机订单。价值约2000 亿美元的F-35 联合攻击战斗机(JSF)订单,这成为美国及其盟国未来防御能力的基石。JSF订单的关键部分包括设计测试系统,用于对计划中的超过3000 架JSF战斗机进行从生产,环境应力筛选到补给的测试。面对挑战,洛克希德·马丁公司的仿真、训练和保障部(LM STS)开发了LM-STAR测试系统,提供对航空电子测试系统的集成支持。LM-STAR 系统使用NI TestStand 及LabWindows/CVI 作为核心测试管理及ANSI C 测试开发环境,能够快速开发测试方案,并满足用户的低成本和及时性要求。

开放式的软件构架保障快速开发

LM-STAR 系统中,开放式的软件构架主要基于NI TestStand 及LabWindows/CVI,支持测试系统从工厂到测试现场的无缝转换。LM-STAR 方案提供了通用的测试系统,可供所有参与JSF 协作计划的航空电子设备供应厂商使用。

非常重要的是,JSF程序作为一个大型项目, JSF协作计划允许多个供应商,包括BAE公司、Northrop Grumman公司、Rockwell Collins公司、及Raytheon 公司,采用NI TestStand及LabWindows/CVI同步为JSF/F-35 开发测试程序集(TPS)。LM-STAR系统中先进、开放的软件构架保障了系统的快速开发及任务关键测试系统的开发,同时降低了长期维护的代价。

测试软件的适用性保障对多测试配置

通过NI TestStand商业现货测试管理环境所提供的标准特性,LM STS测试工程师设计了通用测试构架,能够快速实现可配置的测试方案。LM-STAR 的关键特性是采用许多核心NI TestStand组件,如灵活的模块化适配器,用于调用在任何测试开发环境下开发的测试程序;还有NI TestStand过程模型,用于将核心系统功能从独立测试中区分出来。

LabWindows/CVI 开发环境通过提供行业领先的设备连接性,和基于ANSIC的开发语言的驱动支持,并由编译器对测试进行优化, 从而保障了基于LM-STAR测试系统的快速配置性。

兼容未来技术,延长系统时效性

LM-STAR系统的模块化测试构架通过采用NI TestStand及LabWindows/CVI,能够轻松集成嵌入未来技术,保障任务关键测试系统不会过时。

一个例子就是全新NI TestStand支持直接从NI TestStand中调用ATLAS TPS。这项重要技术允许系统通过普通测试构架支持旧的航空电子测试系统,同时兼容新旧开发环境。此外, ATLAS 与NI TestStand 3.0 的全新接口具有浏览及选择ATLAS TPS 文件、设定参数及实现远程控制等特点。运行特性包括灵活的TPS服务器状态转换,如连接、装载、分离;参数读写;全局锁定;处理手动TPS干预;及暂停、终止序列执行的能力。

航空电子测试系统开发者还密切关注新定义的基于XML 自动测试标记语言(ATML)标准的发展,它能够在XML中描述测试过程及结果。LM-STAR 系统中开放式的软件构架将显著简化航空电子测试系统的数据模式。事实上,NI 已表示目前的NI TestStand 3.0XML 特性能够在全新测试结果XML 模式中生成结果,并与ATML规范草案相一致。

标准化方法显著缩减成本

在创新LM-STAR开发方法中,基于商业现货软件的标准化测试系统开发已让LM STS、协作供应商及美国政府缩减大量成本。LM STS估计其标准化LM-STAR 开发方式在JSF/F-35 计划中已为美国政府节省数百万美元,并且在整个计划过程中还将节省数亿美元。

关键字:LM-STAR  软件测试系统  电子测试系统

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/1112/article_10033.html
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