吉时利2014年先进器件测量和材料表征技术研讨会

2014-09-22 17:01:52来源: EEWORLD

    为与会者带来最新的半导体测试产品技术和应用,以及最新的器件测试系统和应用技术。

    中国 北京,2014年9月22日 -先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器日前宣布,2014年吉时利先进器件测量和材料表征技术研讨会将先后在以下城市举行:广州/10月14日,厦门/10月16日,武汉/10月21日。本次研讨会旨在帮助广大用户能够更进一步了解吉时利最新的半导体测试产品技术和应用,以及最新的器件测试系统和应用技术。与会观众更是有机会与行业专家及吉时利公司的专业人士零距离接触,详细了解行业发展趋势及产品技术。

    “吉时利身为新兴测量需求解决方案领导者,长期致力于不断推出新产品、新技术和新方法,以满足高精度、高速度、高灵敏度和分辨率的测试测量需求。我们欢迎中国工程师朋友们通过三地的研讨会了解这些最新产品和方案,为他们的工程项目带来最给力的测试解决方案。”吉时利市场部经理潘斌说道,“从微弱信号测量到先进的纳米器件测试,从尖端的器件设计研发到制程可靠性的测试,从先进的存储器测试到新能源器件的测试,吉时利的经典产品—半导体器件测试系统为广大业内客户提供了强大的测试手段。”

    届时,吉时利资深技术应用工程师将在研讨会现场与出席本次研讨会的工程师深入交流下面主要领域的技术与解决方案:

先进的材料和器件特性分析系统
    先进的材料和器件特性分析系统4200-SCS系统是用于器件、材料和半导体工艺电学特性分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时集成了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,广泛地应用于先进半导体材料和器件,绿色能源器件,纳米电子材料和器件的特性分析。4200-SCS系统为科研人员提供了直观而高级的功能,是一套功能强大的单机解决方案。

半导体C-V测试技术和技巧
    电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。吉时利在C-V测试方面有着丰富的经验,可以提供最完整的C-V测试库。

纳米器件、半导体参数、WLR晶圆级可靠性和存储器测试
    本主题将介绍纳米器件测试、半导体参数测试,以及WLR晶圆级可靠性测试、存储器测试。专家将现场分享如何提高测试系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力,轻松实现DC、I-V、C-V和脉冲测试测量以及微弱信号测量难点与应对方案等。

吉时利2450 型触摸屏数字源表
    吉时利2450型触摸屏数字源表是全球首款容性触摸屏SMU,所以加电后立即就能直观轻松地设置和使用。本次研讨会上,吉时利的专家将现场介绍全新推出的SMU 2450,提供完美功能展示。崭新的界面与操作,绝对令您耳目一新!

使用电源精确测量直流功耗优化产品耗电特性
    低功耗产品的电池耗电特性是研发工程师关注的重要问题,吉时利PMS 2280S精密测量电源为产品的直流耗电测量提供了全新的解决方案。在输出更大功率的同时,仍然保持了高品质的电源性能,以及媲美六位半万用表的测量精度。为工程师了解产品直流耗电特性提供了强有力的工具。

吉时利2014先进器件测量和材料表征技术研讨会日期及地点:

关键字:吉时利

编辑:刘东丽 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/0922/article_9579.html
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