理解RF性能测量中的纹波:理论与实验

2014-08-30 13:44:22来源: eefocus

在射频(RF)和微波频率下进行器件表征时会出现纹波。RF工程师需要确保测量装置经过正确校准和匹配,以避免纹波带来的测量误差。装置中不匹配和错误的互连、线缆、连接器、SMA启动等都会引起纹波,从而导致增益、输出功率、OIP3、回波损耗和OIP2等器件性能参数测量时出现误差。线缆、评估板线路和封装中阻抗错配会引起多个电磁场反射,导致纹波的形成。因此,进行RF器件表征时,需注意使用正确的测量装置,以最小化这类误差的出现。本报告将为读者详细介绍这些纹波形成背后的理论分析。另外,我们还会讨论一些基本模拟支持的实验室测量。

有时,在RF器件参数表征(例如:增益、线性和回波损耗等)时会出现纹波。出现这些纹波的原因是线缆、连接器、评估板线路、受测器件(DUT)和封装内传输信号的多次反射。这些纹波由这些互连结点的阻抗错配所引起。


图1.(a)基本传输线(b)同轴传输线(c)微波传输带传输线(d)第一错配层边界,和(e)电介质块等价物。

图1a显示了电源VS、电源阻抗ZS、传输线特性阻抗ZO和负载阻抗ZL的基本传输线。为保证输入入射波能完整传输,传输线应匹配电源和负载,例如:ZS=ZO=ZL=50欧姆。如果该传输线(比如:图1b所示同轴线或者图2b所示微波传输带线)的特性阻抗不等于50欧姆,则错配层便会有反射。错配层可以被看作是具有不同电介质属性的两种介质的边界。特性阻抗不等于50欧姆的传输线部分可以表示为绝对介电系数ε2介质,而50欧姆电源和负载可以表示为绝对介电系数ε1介质(图1d和1e)。


通过仔细研究阻抗错配层的电磁波相互作用情况,我们可以更深入地理解阻抗错配产生的反射。在这些层的电磁波的相互作用导致介质边界出现波反射和传输,其分别被量化表示为反射系数Γ和传输系数τ。反射系数是反射Er和入射Ei电场强度的比率。传输系数是传输Et和入射Ei电场强度的比率:


这些系数直接与增益、输出功率、线性和回波损耗有关。要想理解阻抗错配引起的纹波,我们首先必须理解反射和传输系数,以及在阻抗错配边界电磁场的相互作用。这些系数所反映的内容最终都将出现在性能参数测量中。

理论分析


反射和传输系数与穿过边界的材料或者介质的结构性参数(介电常数、透磁率和传导性)、波传播方向(入射角)以及电场及磁场的方向(波极化)有关。电磁波以横向电磁波模式(TEM)传播,这种模式的特点是:传输线路中没有纵向磁场,线路由两个或者更多导体(同轴线或者微波传输带线)组成。在传播方向上没有电场分量E和磁场分量H的波传播,应出现在图1d所示两个介质的边界处,并且入射角为θi(倾斜入射角)。


斜入射角波。通过电磁波平行║或者垂直┴极化的情况,可获得斜入射角的反射和传输系数。大多数线缆和传输线介质材料相对磁导率μr一样。μr=1时平行极化反射系数Γ║、平行极化传输系数τ║、垂直极化反射系数Γ┴和垂直极化传输系数τ┴的菲涅耳(Fresnel)方程式,请分别见方程式3-6。参考[1]有这些方程式的详细解释。下标“i”、“r”和“t”分别代表入射、反射和传输场。


正常入射波

两个导体传输线内的波传播通过正常入射角为θi=0°的这段传输线。当θi变为0时,菲涅耳场反射和传输系数变得与极化无关。方程式3和5的反射系数以及方程式4和6的传输系数所得到的结果与方程式7和8一样。下标“12”表示波从介质1入射,然后传输至图1d的介质2中。

多次反射时的反射与传输系数

我们将在本小节中计算图1e所示电介质模块多次反射时的反射和传输系数。图2显示了该电介质模块内正常入射平面波多次相互作用。


电介质模块入射的正常平行或者垂直极化平面波可被看作:


其中,w为角频率,d为电介质模块内波传输的距离,而γ为电介质模块的传播常数,其如方程式10所示。传播常数的实数部分为衰减常量α(Np/m),而虚数部分为波长常数β(rad/m)。方程式10中εr和μr为电介质模块(即波传播介质)的相对介电常数和透磁率。

[1] [2] [3]

关键字:RF  性能测量  纹波  阻抗错配  斜入射角波

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/0830/article_9412.html
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