静电放电抗扰度测试容易出现的问题及处理措施

2014-08-28 12:47:05来源: eefocus
静电测试主要考察系统设备的抗静电干扰能力。

出现的问题如下:

①被测设备通讯暂时性异常中断。

②显示器闪道、闪屏、黑屏。

③被测试设备故障,如死机需要人工重启等。

④被测设备误动作,如内部继电器误动作等。

⑤被测设备指示灯闪亮。

处理静电问题的一般方法就是在静电泄放回路上查找原因。一般的处理措施及意见如下:

①板卡面板之间安装导电压簧,保证设备外壳导电一致性。

②设备外壳可靠接地,重新布置地线,设备地线就近接机柜。

③工控机、ups集成类设备外壳就近接机柜。

④调试端口安装防护罩,一般调试端口没有进行防护,避免进行测试,建议设计时调试端口不引出板外。

⑤测试设备如果受影响,如交换机等,一方面可以选择工业级的交换机,另一方面将其可以安装在机柜后部,避免进行试验。

⑥面板指示灯应隔离。

⑦机柜如安装显示器,静电试验时,显示器易出现闪道、闪屏、黑屏现象,不能满足A级要求,需要将显示器后移,直接放置在托盘上。

关键字:静电  放电  抗扰度  抗静电干扰

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/0828/article_9392.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
静电
放电
抗扰度
抗静电干扰

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved