安捷伦自动夹具移除选件最轻松非同轴器件测量

2014-05-30 17:36:53来源: EEWORLD

安捷伦科技(NYSE:A)日前宣布推出最新强大的自动夹具移除(AFR)选件。该选件主要用于旗下的 PNA 系列网络分析仪。早前,这项误差校正技术仅在安捷伦物理层测试系统(PLTS)软件中提供。自动夹具移除(AFR)选件能够成就业界最轻松、最快速的非同轴器件精确测量,帮助工程师减少时间和资金的投入。

如今,许多器件都没有同轴连接器,只能通过夹具才能在同轴环境下进行测量。然而,要获得完美的被测件测量结果,需要精确去除夹具效应。尽管可以通过 EM 电磁仿真软件的建模,或者在基板上构建多个校准标准件来表征和去除夹具效应,但这些方法非常繁杂而且耗时。

安捷伦最新的 PNA AFR 选件可帮助工程师快速、精确地去除非同轴器件测量环境中的夹具效应:工程师可以使用快捷的五步向导程序完成必要操作,然后将去嵌入文件保存为多种格式,以便日后在 PNA、PLTS 和先进设计系统软件中使用。

使用 AFR 选件时,工程师必须首先对夹具输入端的参考面进行同轴校准;然后再测量一个或多个标准件,将其作为夹具的 2 端口直通通道,或者充当开路或短路的半端接夹具。如果只使用单端口的 AFR,实施夹具去嵌入的过程可以更快。在被测件安装之前先对实际夹具的测量作为开路状态, 之后,AFR 选件会自动表征夹具,并将夹具效应从测量结果中去除。目前的 PLTS 软件也具备了单端口 AFR 功能。

安捷伦元器件测试事业部营销经理 Steve Scheppelmann 表示:“最新 AFR 选件的精度可与板上TRL校准相媲美,但实现起来更为轻松。对于不熟悉 AFR 的微波工程师,为了精确地校正夹具效应,他们完全不必再去执行复杂的 EM 仿真或构建板上校准套件。而对于熟练使用 AFR 的信号完整性工程师,他们也能受益于 AFR 选件的单端口功能,从而显著节省测试时间。”

安捷伦将在 2014 IEEE MTT-S 国际微波会议上展示最新的 AFR 选件以及其他 20 款最新设计和测量解决方案。会议预定于 6月 1 日 至 6 日在美国佛罗里达州坦帕市举行,安捷伦位于 1133 展台。安捷伦合作伙伴的展台与安捷伦相邻,他们将展示的解决方案包括:建模和器件表征,半导体制造,IC、晶圆和 PCB 设计、测试和原型制造,天线测量系统和测试暗室以及定制系统等。此外,安捷伦高频技术中心研发经理 Robert Shimon 博士将于 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 剧院发表主题演讲,题目是《数字市场如何推动微波技术发展》。而安捷伦元器件测试事业部研发经理 Bob Schaefer 将于 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 剧院发表 AFR 主题演讲,题目为《最新校准方法提高夹具器件的测量精度》。

关键字:安捷伦

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/0530/article_9123.html
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