安捷伦PXI功能测试系统亮相Nepcon

2014-04-22 16:07:16来源: EEWORLD

    2014年 4 月 22 日,北京――安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布,旗下最新款 PXI 功能测试系统、边界扫描分析仪以及最新在线测试系统将亮相 NEPCON 中国电子展(NEPCON EMT China 2014)。本届展会将于 4 月 23 日至 25 日在上海世博展览馆举行,安捷伦在 1G60 号展位。

    安捷伦专家将展示:

    新型 Agilent TS-8989A,业内唯一一款经济高效、完全集成、拥有大电流开关的PXI功能测试系统,适用于汽车电子功能测试。

    功能强大的 TS-5400 PXI 系列功能测试系统,可以为汽车、航空航天与国防以及工业控制制造商提供现成可用的 PXI 硬件和软件平台,并且支持单一或多个被测器件测试。

    多功能 x1149 台式边界扫描分析仪,荣获 EDN 杂志“2014 年最佳测试奖”。x1149 提供快速测试周转速度和广泛的测试功能,可涵盖从设计与验证到新产品引进与批量生产的各个阶段。x1149 演示还包括固态硬盘测试和 Intel Silicon View 技术。

    低成本 Medalist i1000D ICT,市场上体积最小的在线测试系统,配有电路板自动装载设备,可自动对智能手机、LED 以及汽车保险丝盒等器件执行制造测试。i1000D 提供数字测试、边界扫描和串行编程功能。

    完全集成的 Medalist i3070 系列 5 在线测试系统,使用短线夹具,凭借出色的测试移植性和可重复性而倍受客户青睐。该款屡获殊荣的套件产品支持受限接入测试和 LED 测试,并配有简单易用的界面。

    Agilent i1000D 诊断测试仪,一款定制模块化 ICT 仪器,适用于研发、维护和并行功能测试,能够加快原型启动速度并提供精确的维修诊断。

关键字:安捷伦  亮相

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2014/0422/article_9069.html
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