安捷伦超快速Express Test全面升级

2013-12-09 12:05:29来源: EEWORLD

  2013 年 12 月9日,北京——安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布其快速压痕测试 Express Test 选件荣获全球百大科技研发奖,现可兼容全部 Nano Indenter G200 台子、DCM II 和 XP 压头。创新 Express Test 技术可实现全球最快速的纳米压痕,以进行力学性能成像。

  Express Test 能够独一无二地与安捷伦畅销的 Nano Indenter G200 配合使用,提供适合多种材料的高精度数据。Express Test 所提供的方法非常适合金属、玻璃、陶瓷、结构型高分子、薄膜和低介电材料等多种仪表压痕应用。Express Test 可在 100 秒内在 100 个不同的表面位置执行多达 100 次的纳米压痕测量。

  对于科学和工业部门的工程师来说,Agilent Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即点即拍的简便性。Express Test 使 Nano Indenter G200 能够在载荷控制或位移控制模式下工作。测试过程很简单:即点即拍。

  使用 Express Test,用户可以在几分钟内完成压头的面积函数校准,使用稳健统计快速测试杨氏模量和硬度,以及定量的力学性能成像。安捷伦性能领先的 NanoSuite 软件允许用户自动生成直方图和 3D 力学性能图形。图形和支持数据可轻松导出到 Microsoft Excel 表格。

关键字:快速  express  全面  升级

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/1209/article_8345.html
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