2013 年LTE<E-A测试技术应用研讨会举办

2013-12-04 17:07:12来源: EEWORLD

2013年注定是中国通信史上具有里程碑的一年。伴随着国内4G牌照的发放,TD-LTE规模商用之旅即将真正开启。LTE快速发展为运营商通信产业链带来巨大发展机遇的同时,也带来了新的挑战,如何在机遇与挑战并存的情况下,整合各产业链环节,进行更深入的合作,顺利迎接4G LTE新时代的到来,需要业界共同的讨论和交流。

作为领先的LTE解决方案提供商,安立公司(Anritsu)携手 TD产业联盟将于2013年12月6日在北京举办主题为“LTE<E-A 测试技术应用研讨会”。本次交流会特别邀请了工信部电信研究院、运营商、TDIA、安立公司和业内的专家做分享。就LTE国内外市场发展趋势,LTE<E-A 一致性测试、运营商接受测试、终端应用测试,以及行业内芯片厂商,终端厂商的技术方案,展开深入的交流探讨。

除了议题演讲外,我们还将现场展示一系列的LTE解决方案: ME7834L移动NS-IOT终端测试系统;ME7834L LTE协议一致性测试系统;MD8475A应用测试及MD8475A 中国移动国际漫游机卡测试。覆盖芯片和终端开发,集成测试系统测试,一致性测试,运营商入网测试等内容。让参会者切身体会最新的测试系统、技巧、工具和解决方案。为迎接4G LTE新时代的到来,夯实产业基础。

关键字:研讨会  举办

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/1204/article_8303.html
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