使用宽频率范围矢量网络分析仪应对高速互联测试的挑战

2013-10-10 13:20:42来源: 21ic
云计算,智能手机和LTE服务使网络流量显著的增加。为了支持这些增加的流量,IT设备,如那些用于数据中心的高端服务器的速度必须增加,这对信号完整性测试的工程师提出了挑战,因此需要更先进的测试仪器,例如矢量网络分析仪(VNA),如下图1中所示。

newmaker.com
图1: 毫米波矢网VectorStar Broadband ME7838A 系统 配合3743A 毫米波模块

成本/性能权衡

更高的数据传输速率引入新的设计挑战(如印刷电路板的导体趋肤效应和介电损耗),以及设计权衡相关的过孔,叠层,和连接器引脚。评估的背板材料的选择和各种结构的影响,需要在频域和时域进行精确的测量。精确的测量为成本/性能权衡决策提供了信心。其目的是通过眼图评估互连的影响。图2示出背板在眼图上的影响的一个例子。

newmaker.com
图2: 背板在眼图上的影响

有些问题是由于过孔,叠层和连接器引脚所引起的。然而,频域数据本身不足以定位特定问题的位置。此时有必要变换到时域数据。无源元件,以及子板之间的近场和远端点,必须测量电路板的频率域和时间域,以确保在每个测量点的传输特性满足标准。用最好的分辨率,来提高对不连续性,阻抗的变化,和串扰等问题的定位能力。此外,今天的许多结构是电大尺寸并对测量解决方案的无混叠的范围施加压力。

准确的模型有助于加快设计周期。然而,模型好坏仅取决于模型加载的参数,不准确的参数会最终导致仿真结果的不准确,潜在的衔接问题和不精确。反之,低频测试信息不准确导致的直流外推误差,也降低了模型的准确性,并与3维电磁仿真结果不一致。

在很多情况下可能无法直接连接到被测设备(DUT)。在这些情况下,去嵌入DUT周围的测试夹具就很有必要。有时需要与此相反的过程:对于某个器件,当周围环绕其他网络时,使用嵌入功能来评估器件的性能。然而,许多消极和本质的问题是由于不良的校准和去嵌入方法。此外,高的夹具损耗可能会影响去嵌入的准确性和可重复性。幸运的是,面对这些挑战,最新的矢量网络分析仪技术可以提供解决方案。

最大频率范围

高端和低端的频率范围限制了对背板或其它互连的S-参数表征,并影响数据质量和任何后续的建模,但原因不同。通常首先想到的是高端的频率范围,许多人对NRZ时钟频率3次或5次谐波进行测量。对于一个28 Gbps的数据传输速率,这意味着一个42 GHz或70 GHz截止频率的S-参数扫描。另一种对测量频率上限的考虑是基于因果性。当S-参数数据被转换成时域用于进一步仿真,因果性误差可能会出现。

对频域数据整理时,可以减少这些问题,有很多潜在的问题与对设备实际特性的曲解相关。要使仿真更安全,更准确,使用尽可能宽的频率范围– 直到最高频点的重复性和失真(例如,DUT开始有效地辐射,测量非常依赖周围环境)会影响测试结果。由于在更高层次的仿真中,正在研究更快和更复杂的瞬态响应,所以更宽频率范围数据的需求变得更强烈。

newmaker.com
图3: 当低频测试数据有错误时,眼图仿真的结果

低频端的频率扫描范围同样重要。当获得数据越接近直流, 越能提高模型精度。例如,考虑这样一种情况下,测得的S-参数的数据被送入一个软件的背板模型,来估计在眼图上的影响。图3示出在低频数据有一些错误时,眼图仿真的结果。在这个例子中,发现在较低的频率(10 MHz)上,传输测试的一个0.5 dB误差,能使一个眼睛85%张开的眼图完全封闭。由于中频段(10 GHz)的传输不确定性可能接近0.1dB,取决于设置和校准,在低频频率时,不确定度反而会更高,眼图失真效应不能忽视。
[1] [2]

关键字:宽频率  矢量网络分析仪  高速互联测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/1010/article_7915.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
宽频率
矢量网络分析仪
高速互联测试

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved