NI发布NI PXIe-5162数字化仪

2013-04-16 13:56:52来源: 21ic
美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)于近日发布NI PXIe-5162数字化仪,并更新了LabVIEW抖动分析工具包。 该数字化仪带有10位垂直分辨率和5 GS/s采样率,它的高速测量垂直分辨率是传统8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162单个插槽中具备1.5 GHz的带宽和四个通道,适用于高通道数数字化仪系统的生产测试、研究和设备特性记述。 工程师们因此可以结合使用LabVIEW与数字化仪,以及LabVIEW抖动分析工具包中专门为高吞吐量的抖动、眼图相位噪声测量优化过的函数库,以满足自动化验证和生产测试环境所需。

“NI PXIe-5162数字化仪结合了高速、高通道和高分辨率测量三大特点,让传统的示波器用户突破了使用传统箱型仪器进行自动化测试的界限,”NI模块化仪器研发总监Steve Warntjes表示。 “使用我们的高速数字化仪与LabVIEW抖动分析工具包,可以帮助工程师借助现代PC的处理性能,而不是箱型示波器上传统的嵌入式处理器,加快测量系统的速度。”

NI PXIe-5162 特性

· 10位垂直分辨率,可更深入地解读信号

· 单个3U PXI Express插槽包含4个通道,在一个PXI机箱中可扩展至68个通道

· 一个通道上5 GS/s的最大采样率或同时使用四个通道,每通道1.25 GS/s采样率

LabVIEW抖动分析工具包特性

· 内置时钟恢复、眼图、抖动、电平和时域测量函数

· 眼图和掩膜测试的示例程序,以及使用双狄拉克(dual-Dirac)和基于频谱的分离方法,进行随机抖动和确定性抖动(RJ/ DJ)分离的示例程序

关键字:NI  PXIe-5162  数字化仪

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0416/article_7192.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
NI
PXIe-5162
数字化仪

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved