中科大实现全球首次纳米级量子测量

2013-04-16 13:47:42来源: 21ic

日前,记者从中国科大获悉,郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组,日前在国际上首次利用量子统计测量技术,实现不受传统光学散射极限限制的相邻发光物体的测量与分辨,其精度可达纳米量级。研究成果发表在4月9日的《物理评论快报》上。

提高测量精度一直是科学研究的主要课题。在众多新型测量技术中,量子测量方法最具吸引力。量子测量既能实现超越经典测量极限的高精度测量,又能实现经典方式无法完成的各种测量。如利用传统光学测量相近的两个物体距离,精度在数百个纳米。孙方稳研究组利用物体发光的量子统计属性,实现了不受经典光学散射极限的量子统计测量技术,精度可达纳米量级。

孙方稳表示,量子测量技术除适用于相邻物体的光学成像,还可实现发光寿命、偏振和其他自由度的测量与分辨。该测量技术还可实时测量近邻物体的动力学演化以及它们之间的相互作用,为实现进一步的量子信息技术提供了一种新的测量技术,并将在化学、材料、生物等领域得到应用。

关键字:中科大  纳米级  量子测量

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0416/article_7181.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
中科大
纳米级
量子测量

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved