里氏硬度计常见问题及处理方法

2013-04-11 17:39:38来源: 21ic
1、测量硬度值偏高

原因:里氏硬度计在使用过程中,探头内的冲击球头反复对工件表面进行撞击,一段时间以后,冲击球头底端冲击面会产生磨损,达到其疲劳寿命,以致测值偏高。

解决办法:更换新的冲击球头即可。

2、探头线折断

原因:目前,国内大多数里氏硬度计采用分体式结构,探头与主机之间的信号传输线(探头线)将探头与主机连接起来,在使用过程中,探头线会反复弯折,容易导致线路中断,信号无法传输。

解决办法:使用过程中要注意,不能过于用力拔插或扯动探头线,若确实断了,更换探头线即可。 (end)

关键字:里氏硬度计  硬度值  探头线

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0411/article_7147.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
里氏硬度计
硬度值
探头线

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved