Quantenna 选择莱特波特来进行 4x4 MIMO 无线芯片组测试

2013-02-26 17:04:49来源: EEWORLD

美通社加州桑尼维尔2013年2月26日电  莱特波特 (LitePoint) 今天宣布,为整个家庭娱乐提供超可靠 Wi-Fi 网络的领导者 Quantenna Communications, Inc. 选择采用LitePoint® IQxel160™ 来测试其 802.11ac 高性能芯片组。该芯片组支持无线视频发布并具有业内领先的视频质量和覆盖范围。
 
Quantenna 用户工程与营销部副总裁 Nara Bharath 表示:“我们之所以选择莱特波特,那是因为他们在交付 802.11 MIMO 测试系统方面具有良好可靠的记录。我们向客户推荐 IQxel160,因为该产品可以满足对高性能 4x4 MIMO 测试的要求,同时为可以拓展达到其最大数据速率的 802.11ac 提供一种永不过时的解决方案。莱特波特的合作模式和全球支持网络使 Quantenna 可以为我们的客户提供一种经验证的生产测试解决方案,用于测试我们推出的最先进的芯片组。”
 
IQxel160 是莱特波特 Wi-Fi 测试仪系列推出的最新产品。该测试系统设计用于检测 802.11ac 规范下的最高带宽选项,有助于引进速度更快、更强大的“千兆位 Wi-Fi”设备。
 
莱特波特营销部副总裁 Curtis Schmidek 则表示:“我们很高兴与 Quantenna 继续开展合作。Quantenna 的客户从拥有已通过可靠性验证的产品测试解决方案中受益。这种方案可以作为一种全新安装产品,或者由上一代的方案无缝化升级而快速整合至工厂的测试台。”
 
Schmidek 还表示:“虽然 IQxel160 是为最新的 802.11ac 吞吐量选项专门设计的,但该产品除了支持 Bluetooth Classic、EDR 和 LE,还支持 802.11 操作 (a/b/g/n/p) 的全部传统模式。莱特波特为用户由 IQxel 或 IQxel80 升级提供了一种简单的方法,所以它们完全可以升级至符合具有更高带宽的 802.11ac 标准。用户还能从 IQxel160 具有的更高产能或 MIMO 功能中获益。”

上市

莱特波特 IQxel160 今天上市,支持 IQfact+ 内的 802.11ac 芯片组。

莱特波特出席世界移动通信大会——西班牙巴塞罗那
2013年2月25-28日——5号厅D38号展台

莱特波特将在西班牙巴塞罗那举行的世界移动通信大会上展示 IQxel160 和其它针对手机和连接设备的无线测试解决方案。

Quantenna Communications, Inc. 简介
Quantenna Communications, Inc. 是一家无晶圆厂半导体公司,致力于开发基于各种标准的 802.11n 和 802.11ac MIMO 芯片组。这些产品可以为无线网络和设备实现最强的性能、最高的速度和最佳的可靠性。该公司总部位于加州弗里蒙特,拥有一支由在成功创业方面拥有长期良好记录的高管和工程师组成的团队,并得到了红杉资本 (Sequoia Capital)、Venrock、Sigma Partners、Southern Cross Venture Partners、DAG Ventures、Rusnano、Swisscom Ventures,Grazia Equity 和 Telefonica Digital 等领先的风投公司的支持。Quantenna 最近荣登《华尔街日报》(Wall Street Journal) 2012年初创公司前50强榜单。垂询详情,请访问:MailScanner has detected a possible fraud attempt from "cts.vresp.com" claiming to be www.quantenna.com


莱特波特简介

莱特波特是泰瑞达 (Teradyne, Inc.) (NYSE: TER) 旗下全资子公司,总部位于加州桑尼维尔。该公司致力于设计、开发并支持面向无线设备和消费电子产品开发商、合同制造商和无线集成电路设计商的先进无线测试解决方案。该公司提供的解决方案对全球10亿多台无线设备的运行情况进行了优化和验证。该公司的产品用于开发和大批量生产,使客户能够获得更高的投资回报、缩短上市时间,同时提高产量和产品质量。垂询详情,请访问:MailScanner has detected a possible fraud attempt from "cts.vresp.com" claiming to be www.litepoint.com

关键字:选择  莱特  波特  无线

编辑:马悦 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0226/article_6924.html
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