高精度直流微电阻测试仪的研究与开发-----硬件系统设计(一)

2013-02-19 09:38:07来源: eefocus

高精度直流微电阻测试仪的硬件系统设计

本章主要对高精度微电阻直流测试仪的硬件系统进行设计。下面着重从本硬件系统的创新点、整体设计思路、误差分析及围绕各个环节的误差源解决方案来展开。

本文中的高精度微电阻测试仪,以单片机89E58芯片为核心,82C55及8155作为并行口扩展芯片,采用了恒电流电源技术和四端子接线方式,利用高精度、低噪声的OP177芯片作为运算放大器,及ADS78O5作为A/D转换芯片,能够有效地减小了测量误差,提高了测量精度。

本硬件系统有两个创新点:

1.高性价比处理。本微电阻测试仪在方案讨论初期就定下个重要的目标就是要设计制作成为低成本、高精度、便以产业化生产的测试仪,微电阻测试仪的用途广泛,其运行环境差异很大导致这种仪器的损坏、长时间运行后的高精度保证率下降,则需进行更换。为了用户降低成本,首先得使生产厂家降低生产成本,在设计中大量的选用了低成本、稳定性高、通用型的芯片,如89E58单片机、ADS7805型A/D转换器、szess及5155并口、OP177运放等,而不是选用集成度高、稳定性低的其他芯片。

2.接地部分处理。传统的测试仪的只是把模拟地和数字地分开来接地,两者之间未接电阻,这样会导致抗干扰能力差一些,对测试仪的精度也会有所影响。

而本测试仪把模拟地和数字地用Zko的电阻连接起来再接地,经实际调试运行情况来看,抗干扰能力有所增强,从而提高了测量的精度,这是本微电阻测试仪的一个亮点。

高精度微电阻测试仪的整体设计

硬件组成结构

系统主要分为数字电路模块、模拟电路模块和电源模块。其中数字电路模块主要实现系统控制、模拟信号A/D转换、数码显示和与PC机通信功能。模拟电路模块主要实现恒流源、信号放大及滤波功能。电源模块为数字电路和模拟电路提供电源。如图3.1所示:

高精度微电阻测试仪系统框图

硬件系统误差分析

硬件部分的系统误差主要由量化误差与模拟误差组成,即由A/D转换的量化误差、放大器等的线性误差组成的量化误差及由恒流源误差、温漂及增益误差组成的模拟误差构成。

数据采集系统中的元器件很多,从数据采集、信号调理、模/数转换、直至信号输出,要经过很多环节,其中既有模拟电路,又有数字电路,各种误差源很复杂,总体来说数据采集系统的误差主要包括模拟电路误差、采样误差和转换误差等。

模拟电路的误差主要来自放大器的误差,其非线性误差、增益误差、零电位误差都应该在计算系统误差时被考虑进去。模拟线性光藕元件有一定的非线性误差,在考虑系统误差时也是要进行考虑的。

A/D转换器是数据采集系统中的重要部件,它的性能对整个系统起着至关重要的作用,因此它是系统中的重要误差来源。A/D转换器的误差可以分为两部分。

一是A/D转换器的静态误差,它包括量化误差、失调误差和非线性误差。

A/D转换器的静态误差为上述各主要误差的组合,根据不同的器件及不同的使用环境其数值是不一样的。二是A/D转换器的速度对误差的影响。在数据采集系统的通过速率中,A/D转换器的转换时间占有相当大的比重。选择A/D转换器时,

必须考虑到转换时间满足系统通过率的要求,否则会产生较大的采样误差。

另外由于要采集的电信号非常小,所以外界环境产生的干扰信号所产生的误差也是要加以考虑的。

根据分析,综合误差。可用公式表达为:


综上所述,系统硬件部分的误差主要包括以下5个误差源:恒流源、放大电路、A/D转换器、光耦隔离和外界环境等。因此,需要在设计硬件系统时特别注意消除上述的几个重要误差源,在下文中将重点解决这些硬件系统电路所存在的误差源。

恒流源、数据采集放大部分设计

恒流源电路由脉宽调制开关稳压控制电路和功放电路组成 。

由精密基准电压源和高性能运放组成,向被测电阻提供精确的测试电流 。

采用以运放和复合放大系统为核心技术的恒流源设计,恒流源主要由采样电路、控制电路、比较电路和放大电路四部分组成。

电阻测量分为五个测试档:



因为A/D转换器的饱和电压为5v,其有效电压的范围为。一5v,首先我们定每个量程的最大测量电阻的放大倍数为100倍,则其输入电压为5v/100=0.05v,当我们调至量程1时,其最大测量电阻为l99.99m欧.,则其测量电流为0.O5V/199.99m欧=250.0125mA;当我们调至量程2时,其最大测量电阻为1.9999.,则其测量电流为0.05v/1.99“。=25.oo125mA.其他的各量程的测试电流依上述的公式来确定分别为:量程3:2.500z25oA,量程4:0.2500125mA,量程5:0.02500125mA.

[1] [2] [3]

关键字:高精度  直流微电阻测试仪  硬件系统

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0219/article_6860.html
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