使用LabVIEW和NI PXI 测试ASIC

2013-01-18 16:51:31来源: 21IC
"我们的虚拟仪器构建在LabVIEW所编写的专用软件的基础上,因此用户可以设置适当的测试配置、ASIC参数,并读取数据,然后在图形化用户界面上显示分析后的结果。正是由于基于NI产品构建的这个系统方案,使得我们可以节省一年的测试时间。"

– Piotr Maj, AGH University of Science and Technology

挑战: 设计和测试针对物理学和生物学应用中的专用集成电路(application-specific integrated circuits, ASIC)。

解决方案: 使用NI LabVIEW软件和PXI硬件创建虚拟仪器,以尽可能快地测试ASIC

介绍

我们的物理解决方案能够检测低能量、高密度的X射线辐射(见图1)。我们设计了专用的X射线探测器的读数ASIC,如DEDIX[1]、RG64[2]和SXDR64[3],这些都是用于读取硅条探测器,以及诸如PX90[4]的芯片(该芯片采用90纳米CMOS技术构造,并用于读取像素探测器(见图2))。我们的芯片包含多达几千个读数通道,以单光子计数模式工作,这意味着如果某个撞击探测器的光子的能量超过一定的阈值,读数通道就可以对其计数。所有的芯片都包含模拟和数字部分,并具有数字通信接口,用于控制ASIC并输出所采集的数据。每个接口可能有不同数量的针脚,可以与不同的数字I / O一起工作,速度高达200MHz。我们需要尽可能快地测试ASIC,得到结果并作进一步的处理。

newmaker.com
图1. 使用DEDIX ASIC进行X射线检测

newmaker.com
图2. 将PX90芯片连接到PCB

[1] [2]

关键字:LabVIEW  ASIC参  用户界面

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2013/0118/article_6706.html
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