面向未来的测试解决方案

2012-08-29 10:36:22来源: 21ic

  以往,通常只有两种自动测试方法:在线测试(ICT)和功能性测试。

  随着过去几年内PC性能的大幅提升,涌现出了大量新技术,为生产过程提供了大量可选的解决方案。现在,测试过程覆盖了产品制造过程的各个阶段,包括了从PCB预检到完整的功能性测试及加速寿命试验。但是哪种方法才是正确的测试方案,以及什么阶段采用这种方案呢?

图1传统测试解决方案流程


  涌现出的大量技术,例如自动光学检测(AOI)和飞针测试(Flying Probe),已经相当成熟,并且都被应用于一定的测试领域,但是这两种平台都有其局限性。通常而言,采用AOI方法仍然需要较高的操作水平或编程支持。这主要是因为需要对模型间可接受的差异进行不断的调校。许多厂家已经采用了光学检测技术,其中有些取得了不同程度的成功,但是有些则没那么幸运。实际上该技术对工艺均产生了促进作用,但代价不同。也就是说,尽管AOI是对检测工艺非常好的一种补充技术,但是它仅能够提供部分测试方案。

  同样,第三代飞针测试系统也提供了非常卓越的测试功能,是现在最接近于传统在线测试系统的技术。尽管该技术无需专用的测试夹具,控制了测试成本,但是这通常是以牺牲测试时间为代价的。

  因此,传统的I

CT和功能性测试解决方案仍然是许多制造商的首选方案。

  传统的测试解决方案可能会涉及到多个测试阶段(如图1),需要占用很大的空间和人力资源…

  集成

  过去20年内的技术进步为我们提供了VXI、PCI等平台,以及最近兴起的PXI平台。新涌现出的技术,例如PXI Express和LXI尚未达到成熟阶段。所有这些扩展技术的发展都依赖于PC性能的提升。

  通过对基本的PC控制器平台进行扩展,采用PXI和PXI Express技术,许多主流厂家已经推出了各种插卡,并且每天都会有新功能和新类型的插卡出现。尽管有时候这些插卡具有专用的功能,但需要使用专用的硬件。

  PXI技术集成了全功能的在线测试平台,并具有功能上的灵活性,能够为许多测试问题提供理想的解决方案,尤其是其生产能力、平台的将来扩展灵活性,并且最有效地利用了宝贵的空间。

  基于一种解决方案集成测试流程(如图2),会产生可观的节约。

图2多功能测试系统与传统测试方案比较


  采用多功能测试系统具有很多优点。例如,当产品寿命结束或产品发生变化,需要对测试平台进行改造时,无需重新构建崭新的平台,而仅仅需要改进或增加系统的测试资源即可。

  在采用了.NET代码的现代测试语言之后,软件不兼容的问题将成为历史。现在许多PXI卡都提供与.NET兼容的代码,但是有些却并不提供……。现在有些工具可以将原来的.DLL、IVI-C或 IVI-COM驱动转换为.NET兼容的驱动,从而可以将之前及现在的新软件混合使用。

  运行来自于不同测试语言的测试代码,并在一个程序中执行,例如Visual Basic、C#、Teststand或Labview,可生成程序的最终功能。由于无需重新编写以前项目的代码,所以充分利用了编程工程师的时间。

  多架构

   “多架构”是测试圈内听到越来越多的一句行话,但是它究竟是什么意思呢?

  通过将在线式测试和功能性测试平台集成到一个仅采用单机柜的集成式解决方案,从而实现测试过程的流水作业。由于流水线式测试过程能够节约成本、测试时间和宝贵的空间,所以骤然成为了升级至这种平台类型的重要原因。

  多功能

  若要求将繁忙的生产部门所必需的所有测试资源都集成到单台测试系统,确实是个苛刻的要求。许多情况下,一种折中的办法是系统中包括频率计数器、函数发生器、数字万用表(DMM)和精密信号源作为核心硬件。在需要时,是否能够增加专用资源的能力也是一项重要因素。

  所需的就是要有一套兼容的硬件,可方便地集成到一个解决方案。PXI卡则能满足这方面的要求。采用如上所述的软件工具,集成软件驱动,就基本上可以在需要时随时满足功能要求。

  并行测试是许多厂家声称具备的一项功能,但是它通常需要对两组测试路由进行时间分割或顺序切换。现在,随着PC性能的大幅提升,新技术可以提供真正的并行测试能力。测试序列可以是相同代码的两个实例,或者不同的例程,但是可以同时执行。

  由于逻辑器件会出现频繁的电压下降,所以就很难找到能够提供必要测试能力的“现成”资源。为了提供最大的覆盖范围,数字测试硬件现在就需要覆盖所有流行的逻辑器件,从1.8 V直到3.3 V,再到传统的5 V TTL及更高。快模式速率是非常关键的,“Per Pin”存储器是必需的,若需更精确还需要“Pin Face”,需要好的工具进行信号分析。这种要求可能很苛刻,也许并非那么苛刻。

  全新的解决方案

  Aeroflex已经对其屡获殊荣的新5800系列测试系统进行了改进。除了在此之前具备的完全兼容21槽PXI背板、集成式以及三种结构的特点之外,在此基础之上,该系统现在又新增了数字硬件,从而兼容在线式测试解决方案。

  现在,5800系统成为了分散式测试平台的一个真正替代产品,它以单机柜PXI解决方案的形式组合了最佳的模拟和数字测试硬件。该系统的三种结构形式(台式、落地式或机架式)可完全满足测试要求。当需要多逻辑通路进行升级时,可从台式转换为机架安装式。灵活的接口可直接通过电缆连接专用的测试夹具,或者利用各种定制或专用的转换器进行连接,例如Virginia面板、Mac面板等。

  开放式软件架构几乎能够和任何 .NET兼容代码混合用于测试序列中。Aeroflex的测试程序AIDE(Aeroflex集成式设计环境)吸取了当前测试语言的精华,能够调用其它语言的代码,例如VB、Labview或 C#,从而运行以前的程序。此外,如果需要其它测试程序,例如NI Teststand,也可以利用AIDE代码。

  现在,与功能齐全的硬件平台相结合形成了一款真正开放的软件架构,测试经理终于有一套完备的多架构、多功能测试方案可以利用了。

关键字:测试  在线测试  架构

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0829/article_5792.html
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