手动或自动操作的双向可控硅测试仪

2012-08-05 09:48:18来源: 21ic

  双向可控硅是双向交流开关,可以在最高600V电压下控制高达25A rms电流的负载。它们用于电机速度、加热器和白炽灯的控制。逻辑型双向可控硅对微控制器驱动器件尤有吸引力。微控制器输出端口可以直接驱动一只双向可控硅,因为可控硅的触发电流只有3~10mA。与所有电子器件一样,双向可控硅也存在一些内部问题,在将其用于某个设计以前可以检测这些问题。

图1双向可控硅测试仪用一只开关转换测试信号的极性
图1,双向可控硅测试仪用一只开关转换测试信号的极性。

  图1是一个简单而成本低廉的测试设备,它可测试Littelfuse公司的L2004F31、L2004F61、L2004L1和L4004V6TP双向可控硅,也可以用于测试任何其它的引线式双向可控硅,因为所有标准封装(包括TO-220AB、TO-202AB、TO-251和Ipak)都有相同的管脚布局。用一个IC插座可以便于插入待测双向可控硅。这种方法也适用于SMD(表面贴装器件),前提是能找到或创建一个合适的测试插槽。极性开关S1是一只DPDT(双刀双掷)器件,用于检查双向的导通性。切换开关S2是瞬时SPST(单刀单掷)按键器件,通过电阻R2连接栅极(Pin 3)与MT2(Pin 2),以触发待测的双向可控硅(图1)。

表1双向可控硅的测试
表1,双向可控硅的测试

  测试过程只花不到5s,包含4个步骤(表1)。LED向测试操作者显示每个步骤的结果。如果所有四步测试均获通过,则双向可控硅合格。在制造期间要再做一次双向可控硅测试,以保证装配板没有问题,双向可控硅工作正常。这一测试可节约时间与人工,避免整件产品装配完后才发现问题。做此测试时双向可控硅已焊在电路板上。使用的电源电压为标称120/220V AC。测试应对DUT有最小影响,并使用最少的时间与工作量。测试中用双向可控硅测试仪代替一个负载。从测试仪到DUT的连接可以有变化,而且要确保在连接120/220V AC时采取一些安全措施。

[1] [2]

关键字:双向可控硅测试仪  模拟信号  微控制器

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0805/article_5604.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
双向可控硅测试仪
模拟信号
微控制器

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved