简易元器件测试器

2012-07-20 14:35:20来源: 21ic

       本测试器可用来测试晶体三极管、二极管、LED、(单双向)可控硅、电容和开关的通断特性,电路见图1。

 

电路

  测晶体三极管时,将引脚分别插入C、B、E,并根据三极管类型置好NPN/PNP开关,按下S1,如晶体三极管良好,相应的LED便会发光。

  测二极管时,阳极和阴极分别接在“+”和“-”端,开关置于NPN位置,LED1应发光。

  测LED时,将LED的阳极和阴极分别插入B、E,开关置于NPN位置,按下S1,被测LED应发光。

  测单向可控硅时,将开关置于NPN位置,将引脚A、K、G分别连接C、E、B,按下S1放开后,LED1应仍保留在发光状态。

  测双向可控硅时,将开关置于NPN位置,将引脚T1、T2、G分别连接C、E、B,按下S1,LED1应发光,松开后应熄灭。

  测电容时,将电容两端在分别连接“+”和“-”端,来回掀动NPN/PNP开关,LED1和LED2应轮流发光,表示电容良好,但不能得出电容值。

  测开关通断时,NPN/PNP开关置于任意位置,将被测开关接入“+”和“

-”,如待测开关闭合且是好的,根据NPN/PNP开关位置的不同,LED1或LED2就发光,否则开关未闭合或开关已坏。

关键字:元器件  测试  晶体

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0720/article_5481.html
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