简易元器件测试器

2012-07-20 14:35:20来源: 21ic 关键字:元器件  测试  晶体

       本测试器可用来测试晶体三极管、二极管、LED、(单双向)可控硅、电容和开关的通断特性,电路见图1。

 

电路

  测晶体三极管时,将引脚分别插入C、B、E,并根据三极管类型置好NPN/PNP开关,按下S1,如晶体三极管良好,相应的LED便会发光。

  测二极管时,阳极和阴极分别接在“+”和“-”端,开关置于NPN位置,LED1应发光。

  测LED时,将LED的阳极和阴极分别插入B、E,开关置于NPN位置,按下S1,被测LED应发光。

  测单向可控硅时,将开关置于NPN位置,将引脚A、K、G分别连接C、E、B,按下S1放开后,LED1应仍保留在发光状态。

  测双向可控硅时,将开关置于NPN位置,将引脚T1、T2、G分别连接C、E、B,按下S1,LED1应发光,松开后应熄灭。

  测电容时,将电容两端在分别连接“+”和“-”端,来回掀动NPN/PNP开关,LED1和LED2应轮流发光,表示电容良好,但不能得出电容值。

  测开关通断时,NPN/PNP开关置于任意位置,将被测开关接入“+”和“

-”,如待测开关闭合且是好的,根据NPN/PNP开关位置的不同,LED1或LED2就发光,否则开关未闭合或开关已坏。

关键字:元器件  测试  晶体

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0720/article_5481.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:高性能电容传感器检测系统
下一篇:温湿度传感器SHT11的感测系统设计

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
元器件
测试
晶体

小广播

独家专题更多

TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved