泰克升级抖动测量软件,增强串行总线调试能力

2012-07-09 11:38:11来源: EEWORLD

中国 北京,2012年7月6日 –全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布,其正着力简化串行总线测试复杂度---考虑到目前串行总线标准变得更快和更复杂,调试已成为一个主要影响工程生产力的问题。为此,泰克推出一系列广泛的示波器固件和软件升级,以简化和缩短串行总线调试周期,并加强对众多重要串行总线标准的支持,包括PCI Express、CAN/LIN、FlexRay、MIL-STD-1553B和MOST(面向媒体的系统传输)。

过去几年中,串行总线的多样性和复杂性不断上升,而工程师解决信号完整性问题的时间越来越不够用。据最近的EDN“工程师观点”(Mind of the Engineer)研究,54%的工程师称他们要“以更少的资源做更多的事情”,48%的工程师称其肩负的工作职能和职责比以前更重。如果没有对串行总线标准的深入了解,工程师在验证性能和一致性问题时常常会感到困难和沮丧。为应对这种趋势,泰克公司在其高性能示波器系列中加大了对串行总线测试的支持。
 
泰克公司高性能示波器总经理Brian Reich表示:“我们从客户那里了解到,由于串行总线领域的快速变化和复杂性不断增加的缘故,串行总线调试给他们带来的挑战越来越大。他们现在需要的是,简化串行总线调试和验证。为满足这一需求,我们基于在标准领域的专业知识,推出了重大升级,来提供全面的系统‘信心’和最大化的生产力。现在通过使用单一仪器——亦即示波器,客户能够快速识别定时或基于协议的错误,从而帮助节省时间和降低设备成本。”

增强的触发功能
由于信号复杂性不断上升,要想在示波器上捕获独特的事件,就需要一个具有高度灵活性的触发系统。泰克公司凭借其业内最灵活的触发系统——Visual Trigger——来满足这一需求。Visual Trigger允许工程师使用其鼠标或触摸屏,来自由定制形状,来匹配其感兴趣的波形。这一高度直观的功能将改变工程师使用示波器上的触发系统的互动方式。另外,利用新的“标记所有触发事件”功能,泰克高性能触发系统可确保能够在既定的感兴趣采集中,捕获和搜索所有潜在的复杂行为。

为使用MATLAB工程师定制的数据分析能力
工程师通常会使用泰克高性能示波器,鉴于其具有快速测量采集和超高信号保真度等特性。然后,工程师常常会使用处理和分析工具——如MATLAB——以各种用户自定义方法来对波形数据进行分析。现在,泰克公司推出了与MATLAB®一起使用的定制分析界面,为示波器用户提供了独特的绘图和滤波功能,来提高分析的深度。

DPOJET – 业内最一流的分析和调试引擎
随着串行总线速度继续增加,串扰问题越来越受关注。现在升级后,泰克示波器用户将能更好地识别其设计中的串扰问题,而无需求助于误码率分析仪。广受欢迎的DPOJET抖动眼图分析工具新增了一个算法,可将串扰引起的抖动正确识别为有界不相关抖动(BUJ)。这意味着可使用实时示波器,来测量总抖动以及隔离串扰或来自其他抖动源的符号间干扰(ISI)。另外还可使用Microsoft Visual Studio来创建库,例如用以定制DPOJET中的测量。

Altera公司合伙人Mike Li博士表示:“在今天的快速时钟速率和数据速率下,我们知道,串扰问题严重影响我们的抖动预算。一直以来的问题是,在过去,要分辨出抖动是来自串扰还是其他来源是非常困难的,这会显著减慢调试过程的速度。在我们的初始评估中,我们发现DPOJET的新BUJ-aware版本,确实能够准确地揭示串扰问题,并大大提高我们对来自示波器的TJ@BER(总抖动@误码率)数值准确性的信心。”

另外,DPOJET还加强了添加定制测量的能力,而且支持用泰克MSO5000和MSO70000系列示波器的混合信号功能进行逻辑信号采集。该逻辑通道功能允许将16个地址和命令总线信号整合进DPOJET调试环境。

串行解码/触发/搜索
虽然大多数串行总线都具有相似的信号架构,但标准和标准之间具有重要的细微差别。通过提供自动测试套件,泰克公司使工程师无需成为每种标准的专家。此次最新发布可帮助汽车和高端计算这两个重要行业的设计工程师,加快串行总线验证速度。

为了支持越来越多的电子产品在汽车中的应用,泰克公司推出了强大的CAN/LIN支持,和用于分析FlexRay和MOST总线的新功能。这些总线广泛用于汽车行业和许多其他市场,如轻型飞机和重型设备。

随着企业服务器行业的高速串行总线数量和复杂性的增加,泰克公司现在提供对该总线标准所有衍生的PCI Express物理层解码支持。这使已经非常强大的8b/10b解码功能得到进一步增强,同时可帮助工程师加快PCIe设计验证和问题解决速度。

关键字:泰克

编辑:eric 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0709/article_5392.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
泰克

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved