使用LabVIEW和FPGA来创建一个自动化的微控制器测试系统

2012-06-27 18:42:12来源: 21ic 关键字:LabVIEW  自动测试系统  NI
对于之前的应用程序测试平台,我们使用公司内部开发的控制器板,但该板需要一套单独的兼容工具链来下载这些应用程序。此外,我们还很难对这些工具链的用户界面进行导航,不得不使用额外的测试和测量设备。

有了虚拟仪器,我们可以使用同一套软件和模块化硬件执行以下测试:

测试常见的协议(SPI, ASC, I2C)

测试mouseover="javascript:setVal('PWM'); companyAdEvent.show(this,'companyAdDiv',[5,18])" onmouseout="companyAdEvent.out('companyAdDiv')">PWM,ICU

测试模拟/数字转换器

测试控制器区域网络(CAN)

测试时钟和门控

测试多模块同时运行系统

对于需要测试的应用来说,使用FPGA的可重编程功能,它和LabVIEW之间的自动化接口 以及CAN分析仪功能,我们可以很容易地开发我们的系统。

在整个框架上,我们节省了大量的时间和成本。在此之前,对于微控制器的每个模块/外设,测试十至二十个案例我们需要花费四至五个小时。使用我们所创建的基于NI 产品的系统,相同的一组测试执行时间在十到十五分钟内,而且测试质量显著地提高。

我们需要合适的测试平台应用程序以测试微控制器的不同外设。比如,为了测试SPI接口,我们需要建立SPI主机或者从机作为测试平台。我们使用LabVIEW FPGA VIs(CAN接口的CAN VI)来创建每个测试平台。框架内测试案例构造则是指各自的VI。

在框架中,我们可以创建一个LabVIEW对象以获取VI引用,对于每个测试案例的需求,都为用户配置了输入控件和显示控件。执行自动化框架中的测试案例,需要调用特定的VI,配置该VI,最后运行它。

该框架无需用户参与就可以执行测试。比如,测量PWM信号的解决方案如下:VI测量占空比信号频率,然后将其保存到Excel文件中。

另一种解决方案涉及从SPI主机接收数据。作为从机SPI 的VI 可以从主机测试设备(DUT)中接收数据。SPI从机工作在不同的波特率和变化的数据比特下。用户可以配置VI,而其运行取决于测试设备(DUT)的主SPI的配置。

然而,还有一种解决方案涉及产生所需的脉冲个数以测试捕获和计数模块。VI可以产生在上升沿或者下降沿触发的脉冲。在VI 运行时,用户可以配置VI以产生所需个数的脉冲。

结论

使用NI公司的产品,我们可以使用一套软硬件解决方案,轻而易举地测试不同的微控制器外设。我们使用NI的产品,通过向自动化框架提供易用的接口,使我们的测试系统自动化,这样节省了大量的精力和成本。

关键字:LabVIEW  自动测试系统  NI

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0627/article_5320.html
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