晶体管测试仪简介

2012-06-05 19:25:04来源: 21IC

    图1中的简单晶体管测试仪可以判断出晶体管的类型,并且能帮助检测出晶体管的发射极、集电极和基极。其方法是检查被测晶体管三个端子T1、T2和T3之间流过的各种可能电流方向的组合。

    电路使用两只CD4022或CD4017计数器IC1和IC2;一只单门方波振荡器G4;以及一个CD4011四与非门,G1至G3。每个测试端子串接一对LED,用于指示电流的方向。LED的颜色直接表示出晶体管的结端。

  图2是一个简单示意图,有助于理解测试的过程。每个端子都有一对NPN晶体管Q1与Q3和PNP晶体管Q4与Q6,连接到-V或+V上,它们在端子之间建立了所需电势差。电路生成端子之间所有可能或需要的+V与-V组合,以建立起结的关系。Q7和Q8作为电压转换器,而G1至G3是抑制器,防止T1至T3出现同时为+V和-V的冲突情况。

    当一只正常晶体管插在测试端子之间时,它限制电流只能沿某些方向流动。串联的LED表示出这些方向,因此指示出了晶体管的类型。例如,对NPN晶体管,LED发光为红-绿-红;而对PNP晶体管,发光为绿-红-绿。

  了解这点以后,就能轻松地选择出晶体管的基极。至于集电极与射极的区别,必须了解其特性,即在反偏时,基-射结的击穿要比基-集电极结更容易,后者在正常工作情况下是反偏的。

  由于晶体管的基-集电极反偏击穿电压各不相同,因此电路提供了一种改变电源电压的简单方式(图3)。随着电压的升高,与发射极连接的两只LED都发光,而集电极只有一个LED发光(图2中b和d)。±4V的基本电压足够用于检测晶体管的基极或类型。如将电源电压从±4V增至±15V,就可以测试很多种晶体管的发射极。考虑到串联LED的压降,这个范围可为基射结提供最高26V以上的反向击穿电压。

    本电路经过了测试,可正常工作。但是,测试时采用的是CD4520计数器与CD4028解码器(因为手头没有CD4022/CD4017 IC),这种替换应该不成问题。关键是电压电平,对CMOS器件的逻辑1或逻辑0来说,它们基本是相同的。另外,也可以只采用两个电源电压:±5V用于检测基极,±15V用于检测射极。

关键字:晶体管  测试仪  电流方向

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0605/article_5196.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
晶体管
测试仪
电流方向

小广播

独家专题更多

迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved