空空导弹测试设备故障诊断仪器的研究与开发

2012-05-10 15:53:34来源: 21ic

1 引言

空空导弹测试设备出现故障,会使其不能使用或检测出来的参数不准确,直接影响到空空导弹的战备或作战保障。因此,必须对测试设备故障及时进行维修,保证设备随时可用。
空空导弹测试设备是一种光机电设备,但体现其功能的主要还是电子电路系统,且其故障主要出现在电子电路系统中,所以其故障诊断问题主要是电子电路故障诊断的问题。因此本文主要从电子电路系统故障诊断的角度进行论述。

从我军空空导弹测试设备故障诊断现状看,还存在以下不足:

(1)测试设备还缺乏有效的状态监测手段,对故障不能早期发现;
(2)故障诊断方法以人工诊断为主,测试技师依赖于测试仪器的数据进行故障诊断。
为此,本文首先提出应建立两级诊断仪器体系,并对应采用的关键技术进行了讨论;然后对智能诊断的理论和方法进行了讨论,以进一步提高诊断仪器的诊断能力;最后指出了未来研究方向。

2  诊断仪器体系

故障诊断需要一定的仪器设备支持。诊断仪器体系是指根据维修特点、维修体制和诊断要求确定的诊断仪器种类。

空空导弹测试设备在结构上具有模块化、插件式的结构,通过更换模块或插件即可进行快速修复,这是它的维修特点。

从维修体制上看,空空导弹测试设备实行两级维修体制:基层级和基地级维修。基层级维修以换件修理为主,诊断目标为可更换单元(插件),基地级维修以插件修复为主,诊断目标为可更换元件。战时则实行靠前修理,以保证使用为目标。

根据上述特征,认为空空导弹测试设备故障诊断系统应建立两级诊断仪器:
(1)系统级故障诊断仪器。其诊断目标是及时发现设备故障运行状态,并将故障定位到可更换插件。系统级故障诊断仪器可由BIT实现。
(2)插件级故障诊断仪器。其目标是对更换下的故障插件进一步定位到可更换元件。一般可称为插件故障诊断仪。
因此,空空导弹测试设备的故障诊断仪器由系统级和插件级故障诊断仪器一起,形成两级仪器设备体系。

3  系统级故障诊断仪器

系统级故障诊断仪器与测试设备同时运行,它应及时反映测试设备工况。其重要设计技术就是机内测试(BIT)技术。

BIT技术是复杂武器装备整体设计、分系统设计、状态监测、故障诊断、维修决策等方面的关键共性技术。它具有提高故障诊断的精确性、显著地缩短维修时间、降低维修成本和对维修人员的技能要求等优点。

BIT的关键是测试点的选择。选择的基本原则是测试点要能保证使BIT故障检测率和隔离率最佳。一般包括三类测试点:无源、有源、无源和有源测试点[1]。

对不同寿命阶段的装备,采用不同的策略进行系统级诊断仪器开发:
(1)对新设计装备,在设计阶段,BIT系统与测试系统一起进行设计,提高设备固有的状态监测与故障诊断能力。
(2)对已服役装备,可结合装备大修进行系统改装,提高状态监测与故障诊断能力。改装应在充分论证和实践的基础上进行。
针对某型号空空导弹测试设备的自检功能不足、缺乏状态监测的情况,文献[2][3]设计了一套状态监测与故障诊断系统,其结构如图2所示,它属于系统级故障诊断仪器。

4  插件级故障诊断仪器

插件即印刷电路板(PCB),一般由模拟和数字电路组成,对它的故障诊断是一个混合诊断问题。用于插件故障诊断的测试仪器可分为两种类型:基于元件测试的诊断仪器和基于板级I/O测试的诊断仪器。

基于元件测试的诊断仪器,又叫在线测试仪。它主要采用了后驱动等相关技术,能在电路板不工作的情况下,直接测试电路板上的元器件,判断其好坏、功能和型号,从而能够方便、快捷地对各种复杂电路进行器件一级的维修[4]。后驱动技术又称为“强驱动”、“反驱动”或“过驱动”技术,它的主要设计思想是用瞬态大信号隔离其它器件对被测器件的影响,达到给被测器件施加测试码的目的。在线测试仪功能较理想,但也存在价格较昂贵、操作相对复杂,后驱动可能造成元件的损伤等不足,比较适合基地维修使用。

[1] [2]

关键字:导弹测试  故障诊断  诊断仪器

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0510/article_5094.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
导弹测试
故障诊断
诊断仪器

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved