下一代蜂窝测试技术

2012-02-23 08:54:42来源: eefocus

本文主要介绍器件测试模式的功能对测试仪器的要求,设计人员需要专用的非信令测试设备解决方案,以便顺利地引入新的非信令芯片组,最终提供全新的、更快速的测试技术。与此同时,本文将介绍如何选择正确的非信令测试解决方案,并深入分析信令和非信令测试仪器并存的局面。当芯片组集成了快速排序非信令测试模式,尤其是使用预定义的测试序列进行验证时,设计人员必须引入下一代非信令测试仪器,以便对射频参数进行测试。

介绍

目前,非信令技术正方兴未艾,主要用于缩减制造测试时间和成本,并且适用于广泛的技术。芯片组厂商正在想方设法为手机制造商提供此类能力。因此开发针对特定芯片组的专用测试模式,尤其是适合蜂窝验证测试的测试模式已经引起了市场的重视。

此前的文章探讨了不同测试模式中非信令功能的演进和变化程度,并引入了两个术语来描述功能范围。它们有助于解释测试工程师缩减测试时间的潜力,而且分别代表非信令领域潜力水平的一极:

1.非信令

2.快速排序非信令

快速排序非信令测试模式能够显著地优化设计,最大限度地减少测试时间和成本。

受芯片组非信令功能开发这一趋势的影响,手机制造商正在寻求指导,以便最大限度地利用这些测试模式的潜力。本文将讨论这些测试模式如何影响测试仪器的选择,包括研发测试和制造测试。

集成这些新的测试模式通常需要引入新的测试技术。对于非信令测试,引入新的下一代非信令测试设备有可能带来额外的收益,主要是该测试模式的技术优势(见〔1〕中的详细讨论)以及测试设备的非信令测试技术。这就是说,信令测试设备与新一代非信令测试设备的共存对于能否在整个测试过程中广泛引入非信令测试至关重要。

非信令测试的出现

无线技术相关人员可能已经认识到使用适合芯片组控制技术的挑战。例如,802.11 无线局域网(WLAN)和 IEEE 802.16(WiMAX®)两种技术已经可以在其整个生命周期中进行测试,但在每个测试阶段,尤其是在测试向制造阶段过渡的过程中没有信令或空中(OTA)协议。Bluetooth® 制造测试在向测试过渡的过程中同样没有提出信令测试要求。此类芯片组的测试模式为测试工程师提供了充分的自由,使他们可以让器件在要求的信道上以特定的预定义方法发射和接收信号。这不仅是被测芯片组在制造测试校准阶段的一个特性,而且适用于验证测试。在验证测试阶段,器件有时会产生预定义序列。

芯片组控制可以优化蜂窝器件的开发与测试,并可将多个频段和制式整合到单个芯片组或解决方案中。新出现的芯片组不再需要 OTA 协议,并集成了特定的功能,能够帮助测试工程师验证测试排序,从而节约测试时间。

随着下一代芯片组逐步普及,测试厂商正在寻求支持下一代测试技术的测试仪器。与无线测试技术的演进模式类似,为了满足特定测试模式的要求,芯片组设计人员与测试设备制造商之间的合作十分重要。借助目前芯片厂商之间现有的联系,测试设备制造商可以提供实现非信令测试的解决方案。

此外,测试厂商已经推出了针对特定芯片组的商业测试解决方案,使制造商可以轻松地将器件和测试设备集成在一起。

当前的趋势正在朝集成预定义非信令方向发展,其中芯片组将可以在验证测试中输出跨越不同功率和频率范围的各种信号。许多手机已经具备预定义发射的功能(通常至少可以预定义功率和频率),这可以规范校准测试,缩减器件设置时间,进而缩减测试时间。目前特定芯片组的非信令测试模式和技术正不断涌现,其主要目的在于缩短蜂窝器件的验证测试时间。蜂窝验证测试是这些技术的下一个用武之地,它们能够缩短校准阶段中的测试时间。

但是,芯片组厂商必须先开发出测试模式,以供手机制造商使用。芯片组厂商在测试模式中添加的非信令功能越多,则制造测试工程师可能节约的时间越多。

引入下一代测试技术
鉴于非信令测试模式被认为是缩减测试时间的一种手段,下一代制造测试技术的要求正在发生显著变化。芯片组厂商和手机制造商目前处于不同的非信令测试模式整合阶段,因此非信令测试整合也处于不同阶段。芯片组厂商正在为新测试模式开发功能,并将新的特性传递至手机制造商,因此手机制造商需要将新开发的功能整合到制造测试过程中。引入非信令(如图 1 所示)从部分程度上讲是一种过渡。测试模式的专用特性和到生产线的后续整合使得此次过渡与蜂窝技术上下游的任何实例都不同。快速排序非信令是所有手机制造商的目标,因为这可以产生巨大的成本节约。实现此目标需要正确选择测试设备,以便与技术要求相匹配,并克服新的挑战。

[1] [2] [3]

关键字:蜂窝测试  测试仪器  射频

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0223/article_4692.html
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