如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率

2012-02-22 09:25:33来源: eefocus 关键字:G652D  光纤  损耗测试

  光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

  而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

  大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准,然而,在日常的测试工作中,若要采用方便快捷的实验方法,则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此,掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

  Φ32mm*1宏弯测试更为简便

  两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。

宏弯损耗测试方法示意图

  用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

  分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下,对10盘光纤样品的宏弯平均值标准偏差进行统计,最后将全部数据汇总,得到图2。

[1] [2]

关键字:G652D  光纤  损耗测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2012/0222/article_4685.html
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