Allegro DVT推出面向新兴视频标准的符合性测试数据流

2011-12-09 22:51:04来源: Allegro DVT

领先的视频符合性测试数据流公司Allegro DVT于近期发布了其最新的H.264 SVC可扩展高端Level 4.2符合性测试套件,以及H.264 MVC立体声高端Level 4.1符合性测试套件,使这两种新兴的、面向全高清内容(1080P60和全HD 3D)可扩展视频传送标准有了完善的测试体系。为此,专业的电子信息技术市场研究机构北京华兴万邦管理咨询有限公司专程拜访了这家总部位于法国硅谷地区的领先企业。
 
随着数字音视频内容通过数字电视、互联网、移动通信网络等媒体广泛传播,新型移动电话、PMP、机顶盒、平板电脑、蓝光播放器和平板电脑的快速普及,以及各种高清和3D等内容格式和标准不断涌现,为了确保内容在不同的平台和网络上能够准确地播放,数字视音频符合性测试的重要性日益提升,从而也带来了对各种标准符合性的测试服务和测试工具的需求。
 
“随着诸如H.264等各种视频标准的广泛应用,厂商和运营商对标准符合性测试的需求也得到了快速的发展。” Allegro DVT联合创始人及首席执行官Pierre Marty告诉华兴万邦首席分析师刘朝晖。“这是因为实现新的视频标准都需要大量的压缩技术,各家芯片和系统开发商虽然在开发解码器时都可以做到基本类似,但在设计编码器时都各自采用不同的架构和算法来提高压缩效率,因此需要对编码器和解码器产品进行标准符合性测试。”
 
总部位于阿尔卑斯山脚下的Allegro DVT成立于2003年11月,通过专注于研究开发各种视音频数字压缩技术并积极寻找相关特殊定位应用,成为了全球领先的数字视频符合性测试服务和测试数据流供应商。目前该公司拥有25名员工,其中22人为工程师,联合创始人Marty曾经为ST微电子机顶盒业务部的产品架构负责人。
 
到目前Allegro DVT已经开发出了包括各种符合性测试数据流、芯片设计用知识产权(IP)和广播产品三条产品线。其70多家客户均为全球一流的厂商,包括Intel、NXP、TI、ST和Broadcom等芯片厂商,NTT等运营商和西门子、富士通等设备厂商。包括我国的海思半导体、展讯和国芯等亚太厂商占其客户总数的40%。
 
新的视音频标准给Allegro DVT的发展带来了巨大的机会,特别是因为H.264和MPEG4相较于MPEG-2有着更高的复杂性,因此从最初的编码器、解码器芯片和系统设计的开始,一直到在机顶盒和数字电视大规模部署前每一步都要进行必要的测试,这样才能够防止发生极其昂贵的、费时费力的重新设计和无效量产。
 
为此,Allegro DVT提供了多种测试套件,每种测试套件都针对一种子集/应用层面进行了组合。Allegro DVT提供的产品包括以下几种验证工具:MPEG-4 和H.264基础验证数据流,音频/视频系统级数据流以及高端的前瞻性测试数据流。这些产品适用于新产品开发的不同阶段,当在一起使用时,它们会形成一套完整的系统测试套件。
 
“测试数据流是一套自动工作的测试方案,比如我们的H.264基础数据流套件包含了一系列数据流,它们每一个都针对一种特定的视频功能对可能出现的问题进行快速而简单的分析。”Marty先生说。“每一步测试都将被打下签注,与我们的参考视频解码器软件将产生预期解码图像进行比较,从而发现问题。同时我们还提供消除错误工具和完整的参考文档,来帮助设计师发现和解决问题。”
 
而针对机顶盒和数字电视的系统级测试数据流更为复杂,因为各国地区的数字电视标准不尽相同,同时对系统产品的测试要求也非常严格。比如针对欧洲地区用的数字电视标准DVB-T进行测试,Allegro DVT提供的系统数据流依据ETSI TS 101 154 V1.8.1 (2007-07)标准,提供静态图像解析、音频/视频同步、图像解析动态变化、视频编解码器动态变化、图像纵横比、动态格式描述器、图文字幕同步和DVB字幕同步等八项数据流进行测试。
 
“针对未来的各种新兴标准,我们也推出了相应的测试数据流,可以帮助设计师开发不过时的产品。”Marty先生总结道。“我们针对H.264和MPEG4的标准进展新近推出了更高级别的数据流产品,以全面满足全高清、3D和自适应带宽等新的发展,最新的产品包括支持高清移动视频广播的SVC可扩展Level 4.2符合性测试数据流,以及支持3DTV的立体声Level 4.1 MVC符合性测试数据流。”

 

图一、Allegro公司联合创始人兼首席执行官Pierre Marty先生在介绍该公司最近推出的3DTV测试数据流

 

图二、Allegro公司视频测试数据流演示

关键字:Allegro  DVT  H.264  符合性测试数据流

编辑:eric 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/1209/article_4148.html
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