嵌入式测试方案及高速测试技术

2011-09-01 13:36:47来源: 互联网

前言

  目前,在许多应用领域,例如处理器、移动电话、调制解调器等产品,SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核,甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。SOC芯片的应用,对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助,顺应了产品轻薄短小的趋势。
 
  安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统,完全满足业界需求,对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。
 
  嵌入式内存测试嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分,因此其测试以及分析的方法也就相当重要。93000 SOC测试系统在内存的测试上,无须额外的硬件,可直接将高速数字测试通道,作为内存测试之用,以达到全速测试的目的,同时在运行中切换逻辑与内存测试,能有效提高产率,并进一步作冗余分析和修补。

嵌入式内存测试

嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分,因此其测试以及分析的方法也就相当重要。93000 SOC测试系统在内存的测试上,无须额外的硬件,可直接将高速数字测试通道,作为内存测试之用,以达到全速测试的目的,同时在运行中切换逻辑与内存测试,能有效提高产率,并进一步作冗余分析和修补。

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关键字:嵌入式测试  高速测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0901/article_3391.html
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