短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究

2011-08-23 13:38:39来源: 互联网 关键字:短沟道MOSFET  散粒噪声测试

    近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入,人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。由于宏观电子元器件中也会有介观或者纳米尺度的结构,例如缺陷、小孔隙和晶粒等,因而也会产生散粒噪声,并且可能携带内部结构的信息。这使人们对宏观电子元器件中散粒噪声研究产生了极大的兴趣。另一方面,随着器件尺寸的不断缩小,MOSFET器件中散粒噪声成分也越来越显著,已经严重影响器件以及电路的噪声水平,人们必须要了解电子元器件中散粒噪声的产生机理和特性,以便更好的抑制器件的散粒噪声,实现器件和电路的低噪声化。
    对于短沟道MOSFET器件,在室温条件下,散粒噪声被其他类型的噪声所淹没,一般在实验中很难观察到它的存在。目前国内外对于散粒噪声测试技术的研究取得了快速的进展,但是普遍存在干扰噪声大、测试仪器价格昂贵等问题,难以实现普及应用。文中所介绍的测试系统是在屏蔽环境下将被测器件置于低温装置内,抑制了外界电磁波和热噪声的干扰;同时使用低噪声前置放大器使散粒噪声充分放大,并显著降低系统背景噪声;通过提取噪声频谱高频段平均值,去除了低频1/f噪声的影响,使测试结果更加的准确。使用本系统测试短沟道MOSFET器件散粒噪声,得到了很好的测试结果。文中的工作为散粒噪声测试提供了一种方法,对短沟道MOSFET散粒噪声测试结果进行了讨论。


1 测试原理
    对于短沟道MOSFET中散粒噪声的测试,主要影响因素包括:外界电磁干扰、低频1/f噪声、热噪声以及测试系统背景噪声等。散粒噪声属于微弱信号,在实际测试中外界电磁干扰对测试结果影响显著,将整个实验装置放置于电磁屏蔽环境下进行测试,这样就有效地抑制了外界电磁干扰。散粒噪声和热噪声均属于白噪声,在室温下由于热噪声的影响,一般很难测量到散粒噪声的存在,因此需要最大限度降低热噪声的影响。在测试中将待测器件置于液氮环境中,在此温度下器件热噪声相对于散粒噪声可以忽略。对于器件散粒噪声的测试,必须通过充分放大才能被数据采集卡所采集,所以要、求放大器要有足够的增益,同时要求不能引入太大的系统噪声,否则系统噪声会淹没所测器件的散粒噪声,因此采用低噪声高增益的前置放大器。对于短沟道MOSFET,其低频1/f噪声非常显著,它对散粒噪声的影响很大,由于1/f只是在低频部分明显,在高频部分很小,因而可以通过提取噪声高频部分的平均值来降低1/f噪声对测试的影响,使测试结果更加的准确。据此,设计了一种低温散粒噪声测试系统。


2 测试系统设计及测试方案
2.1 测试系统设计
    测试系统,如图1所示,主要由偏置电路、低噪声前置放大器、数据采集和噪声分析系统组成。将所有测试设备放置于双层金属网组成的屏蔽室内,可以有效的抑制外界电磁噪声的干扰;测试系统低温装置是一个装有液氮的杜瓦瓶,它可以提供77 K的测试温度,这样就有效的降低了热噪声的影响。Vcc1和Vcc2为电压可调的低噪声镍氢直流电池组,分别为器件提供栅源电压和漏源偏压,电池组不能用直流电源代替,因为直流电源的噪声比较大。

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关键字:短沟道MOSFET  散粒噪声测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0823/article_3306.html
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