干扰对CDMA手机接收器测试的影响

2011-08-18 12:30:48来源: 互联网

  噪声影响

  对手机进行测试时,考虑噪声之前首先应了解手机的结构。手机里既有发射器(TX)又有接收器(RX),发射器发射功率在+30dBm到-55dBm之间,接受器信号接收范围则在-20dBm到-108dBm之间。CDMA手机的发射器和接收器动态范围都很大,超过80dB,最大功率(Ⅲ级手机为+23dBm)和接收器灵敏度(-104dBm)是需要了解的最重要的指标。

  CDMA手机测试要进行多项试验以保证手机符合特定的标准要求。例如测试手机发射器功率保证传输功率范围在很宽动态范围内都是精确的,特别要测试手机最大传输功率,确保手机辐射功率靠近最大EIRP(有效各向同性辐射功率)规定的最小值,Ⅲ级手机发射功率范围是+23dBm~+30dBm。与噪声相比由于仪器测量到的功率较大,因此噪声一般在测得的整个功率中只是一个无关紧要的因素。另外手机发射器也要测试看是否符合最低发射要求,CDMA最低功率发射规定手机发射必须小于-50dBm,即使在这种情况下,发射信道噪声影响通常也是微不足道的,不会影响最低功率的测量。测量CDMA最低功率出现的问题一般是由使用的功率计噪声最低限制引起的。

  在手机接收信道上,接收器灵敏度测量将会受到噪声的影响。CDMA手机接收器灵敏度规定为-104dBm,手机必须能够以低于0.5%帧差错率对以-104dBm发射的正向链路信号进行解调。Eb/Nt是表示手机准确接收和解调正向链路信号能力的参数,其中Eb是通信信道每位的能量,Nt是接收带宽上的总噪声,这有点像模拟电路中的信噪比(S/N)。当Eb/Nt比率增加时,接收器就能更好地准确解调出信号;而随着Eb/Nt降低,手机则很有可能错误解调正向链路信号。正向链路通信信道的实际位能量要比总正向链路功率-104dBm规定值低15.6dB,换言之,在测量中手机接收的实际信号是-119.6dBm,从这点出发,我们将在混合了Walsh代码的内容里参考正向链路信号。

  根据手机接收器设计的容差不同,它对噪声的灵敏度也不相同,通常当手机性能处于边缘值时一般正向链路信道上都会有噪声问题,有很多因素会影响Eb/Nt中的Nt。

  接收信道上的噪声源

  KTB底噪声 Nt的本质是热噪声,这是环境中永远存在的。热噪声又被称作KTB底噪声,其中:

  K=波尔兹曼常数(1.38×10-23)

  T=参考温度(开氏)

  B=接收器有效噪声带宽

  对于工作在1.23MHz带宽的CDMA系统,热噪声约-113dBm。你也许会问,接收器是如何通过-113dBm底噪声来解调-119dBm通信信号的?这是因为CDMA处理增益有将近21dB,可将14.4kbps/9.60kbps转到1.228Mcps速率。

  ◆元件噪声

  收器前端元件(下转换器和放大器)的噪声也会产生Nt,影响手机灵敏度,即正向链路功率测试级所达到的-104dBm规定灵敏度水平。另外其它所有噪声因素都会提高Nt,同时影响灵敏度测试的成功。与处于性能指标边缘的手机比较,具有一定容差的手机有更大空间容纳增加的噪声。

  ◆环境噪声

  还有众多来源不明的噪声也会降低正向通信信道的Eb/Nt。如任何有发射功率的电路都会产生频谱噪声,大小取决于信号本身或两个干扰信号互调是否有较高功率落在被测带宽上,还要看它是否和灵敏度测试一起出现。外部单元也会产生干扰噪声,测试800MHz CDMA手机时对AMPS系统尤其如此。甚至有报告指出微波炉也会干扰手机灵敏度测试,有很多生产工厂午餐地点靠近生产线,如果在中午或休息时间发现大量灵敏度问题,你应该知道去哪里查找原因。

  ◆紧密接触下的测试

  在生产环境下,有很多测试台根据测试方案在各阶段对手机进行测试,这就是说正在某个阶段测试的手机会干扰另一个在不同阶段测试的手机。一般来讲,被干扰的手机测试的正是灵敏度。记住正向链路设定在-104dBm,主要干扰可能是邻近手机正在接收一个大的正向链路信号,而正好一个手机又在进行灵敏度测试,其正向链路信号设定在-104dBm或以下。将正向链路设定在较高水平的手机测试包括动态范围、最小发射功率和开环范围,一般来讲这些测试的正向链路为-25dBm。

  接收器和发射器耦合

  影响Nt大小的另一个噪声源是手机发射器与接收器的交*耦合,这是手机设计的问题,由于接收和发射信道之间没有适当隔离或匹配造成。因为是设计问题,所以解决方法的成本很高而且很困难。正向和反向链路间隔45或80MHz,故分别对单元波段和PCS波段来说干扰在链路之间是高度隔离的,在手机前端会发现从一个链路到另一个链路的串话现象,这是手机前端设计的问题。

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关键字:干扰  接收器测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0818/article_3271.html
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