便携式产品ESD的测量技术

2011-07-22 13:16:32来源: 互联网

电子系统的静电放电(ESD)鲁棒性性能测试通常采用IEC 61000-4-2作为标准。这个标准定义了每个电压等级下的冲击电流波形、如何校准ESD脉冲源、用于测量的测试环境、测试通过与失败的判据,此外还提供了如何进行测试的指南。

但在对电子系统进行ESD测试时,人们并不知道被测单元实际能承受多大应力冲击。对在受冲击情况下没有接地的便携式产品来说,这点尤其正确。诚然,在便携式电池供电产品的ESD测试中,测量实际冲击电流是有可能的,甚至还可能通过简单地计算,展示如何从测量中获得额外的信息。

对于小型产品来说,工程师经常在专门的测试环境中执行系统级ESD测试(图1)。对IEC 61000-4-2测试而言,这些测试环境包括:地板上的金属接地板、木桌、放在桌子上的金属水平耦合板(到接地板有个0.95米长的连线,在水平耦合板之上的一个0.5mm绝缘层)。


图1

这样的测试环境必然能实现可重复的结果。首先,将被测设备(EUT)放在绝缘表面上,然后从不同的方向对EUT施加冲击。例如,给导电表面施加接触放电,这些表面包括所有金属外壳和连接器的接地金属壳。也可以向四周绝缘表面进行空气放电,并将重点放在可能的ESD路径上,比如设备外壳中的缝隙以及所有通风孔及键盘。

间接放电测试也是工作的一部分,特别是在水平和垂直耦合板上进行间接放电,以模拟由相邻物体中的ESD事件引起的电磁干扰(EMI)效应。对设计师工程师来说,使事情变得更加困难和复杂的是施加到EUT上的实际冲击大小在这些测量中并不总是很明显。

这里用一个便携式电池供电的个人数字助理(PDA)作为例子。首先,向USB端口的金属接地外壳施加接触放电模式的冲击,然后用具有1GHz上限带宽的变压器类型电流探头(最好是Fischer Custom Communications公司的F-65A)测量电流,并连接到标准的1GHz带宽示波器。请注意,探头内径需要足够大,以便适配IEC 61000-4-2兼容ESD qiang的约12mm直径头子。


图2

为简化对这个特殊例子的描述,测量参考基准是直接位于桌面上的0.6平方米接地板,不再使用完整的IEC测试装置(图2)。ESD qiang的接地线连接到接地板的一个角。所有测量都在8kV电压下进行。第一次测量直接到接地板中心。这些测量结果采用扩展时间刻度。


图3

在第二次测量过程中,测试工程师将PDA面朝下放在接地板上,以方便接触微型USB连接器的金属屏蔽壳。进入PDA的电流远小于直接注入接地板的电流(图3)。为进一步减小电流,在PDA和接地板之间插入0.9cm的绝缘层。

图4

[1] [2]

关键字:便携式产品  ESD  测量技术

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0722/article_3040.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
便携式产品
ESD
测量技术

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved