一种频率特性测试仪的设计

2011-07-18 17:50:33来源: 互联网
     频率特性的测量采用扫频的方法实现,用AD9851产生扫频信号,可产生频谱纯净、频率范围广且稳定度非常高的正弦波。通过二极管负反馈桥式限幅放大电路及有效值采样电路等实现频响特性的测量,最后用示波器显示被测网络的幅频特性及相频特性。
    本系统的一个特点是采用了较多串行芯片(AD9851,TLV1544和TLV5638)。为了使电路中的信号干净,应减少电路连线,采用串行芯片可以有效精简电路,保证电路的稳定性和减少信号噪声。但由于串行芯片牺牲了程序的时间效率,所以应该合理设计程序结构。

1 系统方案论证与选择
1.1 幅度测量电路的设计与论证
    方案1:峰值检波电路。基本的峰值检波电路是由二极管电路和电压跟随器组成,通过电容的充放电实现。此电路测量低频信号时检波的纹波较大,适合于测量中高频率段的信号。
    方案2:真有效值检波。从真有效值检波的工作原理可以分为线性有效值检波器、对数有效值检波器和数字有效值检波器。典型的真有效值转换芯片为AD637,使用AD637在测量峰值系数高达10的信号时附加误差仅为1%,且外围元件少、频带宽。
    综上,选择方案1。
1.2 相位测量电路的设计与论证
    方案1:波形分析法。采用两片高速A/D转换芯片同时对输入的两路信号进行等时间间隔采样并将采样结果分别存储,然后对所测信号的波形数据进行分析。扫描存储在RAM中的波形数据,计算两片A/D转换器采集两部分波形数据的最大值或最小值的时间间隔,则信号的相位差为:φx=(Tx/T)x360°其中,Tx为两路信号相临极值的时间间隔,T为信号周期。
    方案2:计数法。将两路被测信号经过异或门后,产生一个鉴相脉冲信号,送入FPGA进行记数,计数值为N。若信号频率为,f,计数频率为fclk,则相位差为:φx(Nf/fclk)x360°,可判断被测信号是比标准信号相位超前还是滞后。由于相差在0°~180°之间和360°~180°之间是对称的,异或后的计数值是相同的,故需加上一极性判别电路。相位的极性判决电路可由D触发器实现,将两路信号接D触发器的D端和CP端,从0端输出的高低电平可判别相差的极性。
    方案1需要用软件对大量的波形数据进行处理才能达到较高的精度,且采集时间间隔难以精确控制,主要适用于精度要求不是很高的情况。方案2的测量过程可以全部由FPGA实现,AD9851产生的信号频率f已知,无需测频,所以这种方法非常容易实现,而且采用FPGA的40 M高频晶振计数,测量精度和测量范围都得到提高。因此采用方案2。

2 系统总体设计方案及实现框图
    本系统以单片机及FPGA为核心,由扫频信号源模块、峰值检测模块、限幅放大模块和相位测量模块构成。系统框图如图1所示。为了提高效率,芯片控制主要由FPGA实现,单片机仅提供系统各模块的触发信号。系统工作时,AD9851产生一定频率的正弦信号,经过被测网络后,其幅值、相位会有所改变。将被测网络的输出端经过AD637有效值检测电路即得出信号的真有效值,A/D采样后送于单片机。同时,分别
将被测网络前后的信号经过限幅放大模块整形为峰峰值为+5 V的方波,送入FPGA进行相位测量。再改变信号发生器的频率,测量对应频率点的相位差与幅度值,直到完成整个频率段的测试,最后将被测网络的幅频特性和相频特性曲线用示波器显示出来。

b.JPG


3 主要功能电路设计
3.1 扫频信号发生器
    AD9851是AD公司采用先进CMOS技术生产的具有高集成度的直接数字合成器,可以直接作为信号源,也可通过其内部的高速比较器转换为方波输出,作为灵敏的时钟产生器。它将相位累加器,波形存储器,10 Bit高速D/A集于一块芯片中,频带宽,频率精度和稳定度高,外围电路简单。
    其内部结构如图2所示。AD9851内部的控制字寄存器首先寄存来自外部的频率、相位控制字,相位累加器接收来自控制字寄存器的数据后,决定最终输出的信号频率和相位,再经过内部D/A转换器,所得到的就是最终的数字合成信号。

[1] [2] [3]

关键字:扫频信号  幅度测量  相位测量  串行芯片

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0718/article_2997.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
扫频信号
幅度测量
相位测量
串行芯片

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved