基于PXI和LabVIEW的无源干扰设备测试诊断系统构建

2011-05-27 22:24:41来源: 现代电子技术 关键字:LabVIEW  PXI  无源干扰  测试

  摘要:基于PXI总线和LabVIEW技术,构建了无源干扰设备测试诊断系统,可完成无源干扰设备各种功能、性能参数快速、准确地测试,并依据测试结果,进行故障诊断,给出维修策略。硬件平台基于高性价比的PXI,测试程序采用LabVIEW开发,故障诊断程序采用INCON 2.O开发,用户只需键盘、鼠标操作即可完成复杂的测试和故障诊断。结果表明,该系统具有通用性、开放性,用户界面友好、操作方便,测试和排故障效率高,有效节省了测试成本和维护保障费用。

  0 引言

  随着多种新型电子器件的应用,无源干扰设备的发展已进入了以总线技术为主的第三阶段,使得其功能越来越强,自动化程度越来越高,结构越来越复杂而紧凑,大大加重了测试和故障诊断的难度。而在设备的实际使用中,为保证安全性和有效性,要求能对无源干扰设备进行以性能测试和故障诊断为主的技术保障。要求既要快速、精确地完成无源干扰设备整机各功能、性能参数的测试,又要单独对分机进行测试和故障诊断并排除故障。因此,研制和开发适合新一代无源干扰设备技术保障要求的测试诊断系统具有重要意义。

  本文采用PXI总线和LabVIEW技术组建了一个用于无源干扰设备二线检测维修的测试诊断系统。该系统利用NI公司的PXI模块化产品,配合自研的适配器,完成所需测量和控制信号的获取和产生,通过程序计算分析所得数据,最终由智能分析系统完成无源干扰设备的故障诊断,具有测试诊断快、机动性强、使用方便的特点。

  1 系统结构

  自动测试和智能故障诊断平台主要由控制器、仪器资源、开关系统、信号接口装置等硬件和安装在控制器内的测试诊断软件组成。本测试诊断系统具体结构如图1所示。

测试诊断系统具体结构

[1] [2] [3]

关键字:LabVIEW  PXI  无源干扰  测试

编辑:小甘 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0527/article_2519.html
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