泰克2011年春季创新论坛点亮未来设计

2011-04-18 18:19:33来源: EEWORLD

    中国北京,2011年4月18日---泰克公司日前宣布,其最大的年度巡展“泰克2011年春季创新论坛”将于4月19日至26日在大中华区的新竹、台北、上海和深圳四地陆续举行。今年巡展的亮点包括为应对不断演变的技术标准和未来应用而设计的高速串行、光通信、嵌入式射频及视频解决方案。同时泰克还将邀请全球IT测试和验证咨询机构百佳泰(Allion Test Labs, Inc)及嵌入式系统开发工具领先提供商Total Phase加入,为从事下一代设计的工程师带来一场协作研讨会。欢迎有兴趣参加的业界同仁登录www.tek.com.cn/TIF/ 报名。

    高速和超高速信号测量(无论是对于高速总线接口或光通信)已经变得十分复杂,需要更多的测试项目和互操作符合性的信心保障。此外,由于数据率不断增加,电缆和连接器分析也对串行系统设计师构成很大困扰。泰克2011春季创新论坛将主要展出针对USB 3.0、PCI Express 3.0、SATA、DisplayPort、TDR和RF应用的解决方案,这些解决方案可帮助工程师缩短生产时间,降低运营成本、确保标准一致性并优化系统性能。

    “从事高速串行数据设计的工程师面临需要不断跟进最新技术的压力。我们预期市场对USB 3.0和PCI Express 3.0产品的需求将在未来几个季度不断增加,这将带来很多市场机会”,泰克公司大中华区市场总监王中元先生表示,“泰克创新论坛将邀请百佳泰和Total Phase等领先公司一起,为那些希望通过先进的测试解决方案和咨询服务来克服设计挑战和产品上市时间压力的工程师们提供一个卓越的交流平台。”

    “我们很高兴参加泰克的巡展和将最睿智的方案带给从事下一代设计的工程师”,百佳泰业务总部协理欧勤圣先生表示,“百佳泰与泰克存在长期的合作关系。这些解决方案在确保我们一致性测试的质量和效率方面扮演着一个重要角色,并帮助我们在技术行业居于前沿地位。”

    Total Phase将提供USB 3.0解决方案讲演,向从事SuperSpeed USB开发的泰克客户介绍其完整的解决方案。Total Phase的Beagle USB 5000 SuperSpeed协议分析仪可用于分析链路和协议层问题。 

    “作为发展最迅速的USB分析仪公司,我们对参加泰克的创新论坛感到很兴奋”,Total Phase业务副总裁Derek Fung表示,“泰克和Total Phase工具的结合为客户提供了用于USB 3.0一致性测试的完整测试套件。”

 今年创新论坛的重要讲演主题

 基于下一代超高速标准的光信号和电信号测量
 使用新BERTScope接收机解决方案进行USB 3.0一致性测试
 PCI Express 3.0逻辑和协议层一致性测试、调试及故障排除
 电缆测量挑战及TDR解决方案
 用于数字射频应用的RSA5000 系列信号分析仪
 百佳泰针对高速串行接口的标准认证与版本更新解析

    泰克2011春季创新论坛将在大中华区的以下四个城市陆续举行:

    4月19日 – 新竹 
    4月20日 – 台北 
    4月22日 – 上海
    4月26日 – 深圳

关键字:泰克  2011年春季创新论坛  示波器

编辑:赵思潇 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/2011/0418/article_2444.html
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